[发明专利]一种芯片测试系统及测试方法

说明书

本申请提供一种芯片测试系统及测试方法，涉及芯片测试的技术领域。其中，芯片测试系统包括：上位机模块、测试模块、主控模块，通过接收上位机模块发送的测试信号，再根据测试信号对被测芯片的待测状态进行配置，再对所述被测芯片进行测试，最后采集所述被测芯片的测试数据后发送至所述上位机模块以生成测试结果，以实现芯片测试，相比现有技术，本申请具有全自动化、操作简单、效率高等优点。

技术领域

本申请涉及芯片测试的技术领域，特别涉及一种芯片测试系统及测试方法。

背景技术

随着国内芯片行业的飞速发展，芯片功能越来越复杂，性能要求越来越高。为了保证芯片设计的可靠性、工艺偏差以及封装稳定性，需要对芯片的功能性能进行测试。

现有技术中，一般采用人工手动测试或传统测试系统来对芯片进行功能性测试。采用人工手动测试的方法存在用时时间长、容易出错的缺点，而采用传统测试系统对芯片进行测试时存在的不容易调试、对待测芯片的状态控制和数据采集操作复杂等问题。

发明内容

本申请的目的在于解决背景技术部分提到的技术问题，提供了一种芯片测试系统及测试方法。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试系统，包括：上位机模块，用于发送测试信号并存储测试结果，所述测试信号与预先配置的芯片测试信息相对应；测试模块，与所述上位机模块连接，用于对被测芯片进行相应测试；主控模块，与所述上位机模块、所述被测芯片连接，用于根据所述测试信号对所述被测芯片进行配置，并采集所述被测芯片的测试数据后发送至所述上位机模块，以生成所述测试结果。

本申请实施例中，由上位机模块、测试模块、主控模块组成的芯片测试系统为一套自动化芯片测试系统，相比现有测试系统，降低了测试人员的操作难度，提高了测试数据的可靠性。

一实施例中，所述主控模块包括：配置子模块、采集子模块、传输子模块，所述配置子模块，接收所述测试信号，并根据所述测试信号对所述被测芯片进行配置；所述采集子模块，采集所述被测芯片的测试数据，并将所述测试数据发送至所述传输子模块；所述传输子模块，接收所述测试数据，并将所述测试数据发送至所述上位机模块。

本申请实施例中，通过具有配置子模块、采集子模块、传输子模块的主控模块，来实现全自动地采集被测芯片的测试数据，解决了现有技术中操作复杂的问题，增加了测试效率，降低了操作复杂度。

一实施例中，所述配置子模块包括：互连的信号接口单元、控制单元、输出单元，所述测试信号通过所述信号接口单元传输至所述控制单元，由所述控制单元进行解析生成相应配置信号，再通过所述输出单元输出至所述被测芯片来对所述被测芯片进行配置。

本申请实施例中，通过设置具有信号接口单元、控制单元、输出单元的配置子模块，来对每一个测试信号生成相应配置信号，自动完成对每一次检测时的芯片状态配置，解决了现有技术中对待测芯片的状态控制操作复杂的问题，大大增加了测试效率，降低了操作复杂度。

一实施例中，所述采集子模块包括：互连的输入单元、数据存储单元、第一数据接口单元，所述输入单元接收所述被测芯片的测试数据，所述数据存储单元对所述测试数据进行存储，再通过所述第一数据接口单元输出至所述传输子模块。

一实施例中，所述主控模块还包括：中断信号接收模块，所述中断信号接收模块接收所述上位机模块发送的中断信号，并控制所述采集子模块停止对所述测试数据的接收。

本实施例中，通过在主控模块中加入用来接收中断信号的中断信号接收模块，更好地优化整个测试流程，使操作更为简便。

一实施例中，所述传输子模块包括：互连的第二数据接口单元、转换单元、第三数据接口单元，所述第二数据接口单元接收所述测试数据，所述转换单元将所述测试数据进行转换，所述第三数据接口单元将转换后的所述测试数据传输至所述上位机模块。