[发明专利]电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电子产品的性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值；

根据所述待测机台的机型功耗设计值和所述实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足最优合格条件；

若所述待测机台不满足所述最优合格条件，则根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙，以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件，包括：

若所述待测机台触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙，则向服务器发送环温请求命令，获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值；

根据所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，确定与所述环温均值对应的机型功耗参考值；

根据所述机型功耗参考值和所述待测机台的实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足合格条件。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述向服务器发送环温请求命令，获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值之后，还包括：

若获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值失败，则根据所述待测机台的机型功耗设计值，判断所述待测机台不满足合格条件。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙以及所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件，还包括：

若所述待测机台未触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙，则判断所述待测机台不满足合格条件。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测机台的实际功耗均值，包括：

获取所述待测机台的功耗测试时间段；

预设功耗提取起始点，根据所述功耗测试时间段与所述功耗提取起始点，确定所述待测机台的多个时间功耗数据，并根据所述待测机台的多个时间功耗数据，确定所述待测机台的实际功耗均值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值之前，还包括：

在性能测试区的各个子区域安装温度传感器，并将所述各个子区域的网协地址与各个子区域对应的温度传感器的设备号建立关联关系，存储在数据缓存库；

预设采集间隔时间，根据所述采集间隔时间，采集各个温度传感器的温度数据，并将采集时间点和所述各个温度传感器的温度数据存储在所述数据缓存库；

相应的，所述获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，包括：

获取所述待测机台所在子区域的当前网协地址；

在所述数据缓存库中，根据所述当前网协地址以及所述待测机台的当前功耗测试时间段，确定与所述当前网协地址对应的温度传感器上传的当前温度数据；

根据所述当前温度数据，确定所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值之前，还包括：

将所述待测机台在所述功耗测试时间段内各个时间点变化的功耗数据，存储于所述待测机台的功率数据缓存库中；

相应的，所述根据所述功耗测试时间段与所述功耗提取起始点，确定所述待测机台的多个时间功耗数据，包括：

根据所述功耗测试时间段与所述功耗提取起始点，在所述待测机台的功率数据缓存库中，确定所述待测机台的多个时间功耗数据。