[发明专利]一种发火测试盒的自检系统及其检测方法

权利要求书

1.一种发火测试盒的自检系统，其包括电容板，所述电容板上连接有MOS管，所述电容板与发火电阻连接以形成发火电路，其特征在于：其还包括模拟电路、采样电路、控制电路；

所述模拟电路，连接于所述发火电路与所述控制电路之间，用于根据所述控制电路的输出信号向所述发火电路发出对应的发火模拟操作信号；

所述采样电路，连接于所述发火电路与所述控制电路之间，用于根据相应的发火模拟操作，将采样获得所述发火电路输出的相应电压信号传送给所述控制电路；

所述控制电路，用于根据所述采样电路输出的电压信号以确定所述发火电路内阻阻值、所述电容板上的电容值以及所述MOS管的好坏。

2.根据权利要求1所述的一种发火测试盒的自检系统，其特征在于：所述模拟电路包括依次连接的切换模块、开关模块和恒流源模块，所述切换模块、开关模块均连接于所述控制电路，所述切换模块与所述发火电路相连接；所述模拟电路包括继电器K1、恒流源U1、电容C1、MOS管Q1、Q2、Q3、电阻R1～R7。

3.根据权利要求1所述的一种发火测试盒的自检系统，其特征在于：所述电容板J1采用的插接电容板，所述电容板J1上连接的所述MOS管包括MOS管Q4、Q5、Q6；所述发火电路还包括发火电阻接口XH1、电阻R8～R11。

4.根据权利要求1所述的一种发火测试盒的自检系统，其特征在于：所述采样电路包括放大器U2、模数转换器U3、电阻R12～R17、电容C2～C6；所述控制电路包括控制器U4、电阻R18～R20、电容C7～C11、晶振Y1；所述控制器U4采用型号STM32F103C8T6控制芯片。

5.一种发火测试盒的自检系统的检测方法，其特征在于：包括如权利要求1～4任一所述的一种发火测试盒的自检系统，所述检测方法还包括：

控制电路发送自检信号至模拟电路，通过恒流源模块为电容板充电以获得电容板上电容容量值；

将所述发火电路短路，且所述控制电路控制输出为发火状态时，所述控制电路根据采样电路采样获得的输出电压，以确定所述发火电路内阻阻值；

将所述发火电路短路，且所述控制电路控制输出为不发火状态时，所述控制电路对所述采样电路采样获得的输出电压进行判断，若输出电压在19V～20V之间，则所述电容板上的MOS管为良品，否则为不良品。

6.根据权利要求5所述的一种发火测试盒的自检系统的检测方法，其特征在于：获得所述电容板上电容容量值包括以下步骤：

S1.1、控制电路控制继电器K1动作，以使得电容板接入模拟电路中；

S1.2、控制器U4控制MOS管Q3动作，以实现对所述电容板的放电；

S1.3、放电结束后，所述控制器U4控制MOS管Q2、Q1动作，以使得恒流源U1为所述电容板充电，从而可获得所述电容板上电容容量值。

7.根据权利要求5所述的一种发火测试盒的自检系统的检测方法，其特征在于：确定所述发火电路内阻，包括以下步骤：

S2.1、所述控制器U4控制MOS管Q4、Q5、Q6动作，以使得所述电容板无效；

S2.2、所述控制器U4控制MOS管Q2、Q1动作，以使得恒流源U1为所述发火电路加电，并将所述发火电路短路，且所述控制器U4控制输出为发火状态，此时，所述控制器U4对采样电路输出的R-ADC端电压进行处理，以获得所述发火电路内阻阻值。