[发明专利]芯片测试装置

说明书

本申请提出一种芯片测试装置，包括底板、第一绝缘件、第二绝缘件、第一端子和第二端子。第一绝缘件和第二绝缘件可滑动地设置于底板上，第一端子与第一绝缘件可滑动地连接，第二端子与第二绝缘件可滑动地连接。本申请所述芯片测试装置结构简单、组装方便，绝缘件可循环多次重复利用，成本较低。另外，本申请所述芯片测试装置与测试电路兼容性好，使用便捷，测试成本低，适用于实验室等多种不同测试场景。

技术领域

本申请涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种芯片测试装置。

背景技术

芯片在使用前，需要进行多次测试，才能投入使用。为了对芯片的性能进行评估，常用的方法是将其封装成分立器件进行测试。现有的专门对芯片测试的设备结构较复杂、成本较高。

发明内容

有鉴于此，本申请提出一种简易便捷、成本较低的芯片测试装置，以实现对芯片的快速检测。

本申请一实施方式提供一种芯片测试装置，其包括：

底板，所述底板包括本体和设于所述本体上的第一连接部和第二连接部，所述第一连接部设有第一滑槽，所述第二连接部设有第二滑槽；

第一绝缘件，所述第一绝缘件设于所述第一连接部上，所述第一绝缘件靠近所述底板的表面设有第一滑轨，所述第一绝缘件背离所述底板的表面设有第三滑槽，所述第一滑轨适于在所述第一滑槽内移动；

第二绝缘件，所述第二绝缘件设于所述第二连接部上，所述第二绝缘件靠近所述底板的表面设有第二滑轨，所述第二绝缘件背离所述底板的表面设有第四滑槽，所述第二滑轨适于在所述第二滑槽内移动；

第一端子，所述第一端子设于所述第一绝缘件上，所述第一端子靠近所述第一绝缘件的表面设有第三滑轨，所述第三滑轨适于在所述第三滑槽内移动；和

第二端子，所述第二端子设于所述第二绝缘件上，所述第二端子靠近所述第二绝缘件的表面设有第四滑轨，所述第四滑轨适于在所述第四滑槽内移动。

一种实施方式中，所述本体靠近所述第一绝缘件的表面设有第一插孔，所述第一插孔由多个同心的环形凹槽形成。

一种实施方式中，所述底板的材质包括铜。

一种实施方式中，所述第一绝缘件的材质包括塑封体或绝缘陶瓷。

一种实施方式中，所述第二绝缘件的材质包括塑封体或绝缘陶瓷。

一种实施方式中，所述第一端子包括第一主体部和从所述第一主体部的两端朝向背离所述第一绝缘件延伸形成的两个第一侧板。

一种实施方式中，所述第一主体部背离所述第一绝缘件的表面设有第二插孔，所述第二插孔由多个同心的环形凹槽形成。

一种实施方式中，所述第二端子包括第二主体部和从所述第二主体部的两端朝向背离所述第二绝缘件延伸形成的两个第二侧板。

一种实施方式中，所述第二主体部背离所述第二绝缘件的表面设有凹槽。

一种实施方式中，所述第一端子的材质包括铜，所述第二端子的材质包括铜。

本申请所述芯片测试装置结构简单、组装方便，绝缘件可循环多次重复利用，成本较低。另外，本申请所述芯片测试装置与测试电路兼容性好，使用便捷，测试成本低，适用于实验室等多种不同测试场景。

附图说明

图1为本申请一实施方式提供的芯片测试装置的主视图。

图2为图1所示的芯片测试装置的俯视图。

图3为图1所示的芯片测试装置的立体结构示意图。

图4为图1所示的芯片测试装置的绝缘件和端子部分滑出底板的结构示意图。