[发明专利]数据处理方法、装置、设备及介质

说明书

本发明涉及一种数据处理方法、装置、设备及介质。通过获取基于不同数据采集参数采集得到的多个待处理数据集，基于多个待处理数据集，通过目标数据处理模型，生成包括每个待处理数据集对应的数据节点的目标控制图，并基于待处理数据集所包括的待处理数据，生成至少一个待处理数据集对应的数据分布图，进而显示目标控制图，以在目标控制图中显示多个待处理数据集对应的多个数据节点，以便在数据节点被触发后显示所对应的待处理数据集的数据分布图。在控制图的基础上增加了数据分布图，数据分布图可以指示待处理数据集所包括的多个待处理数据的数据分布情况，从而丰富了生产质量监控过程中的数据处理功能，以提高对生产过程的产品质量监控能力。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种数据处理方法、装置、设备及介质。

背景技术

统计过程控制（Statistical Process Control，SPC）工具作为一种借助数理统计方法的过程控制工具，可以对生产过程进行分析，以根据分析结果及时发现对产品质量造成影响的负面因素，并采取措施消除其影响，以达到控制产品质量的目的。

然而，SPC工具的数据处理能力有限，仅能基于生产过程中所产生的数据生成控制图，以供相关技术人员根据控制图来进行分析，从而极大地限制了对生产过程的产品质量监控能力。

发明内容

本发明提供一种数据处理方法、装置、设备及介质，以解决相关技术中的不足。

根据本发明实施例的第一方面，提供一种数据处理方法，该方法包括：

获取多个待处理数据集，每个待处理数据集中均包括多个待处理数据，不同待处理数据集对应的数据采集参数不同；

基于多个待处理数据集，通过目标数据处理模型，生成目标控制图，目标控制图包括多个数据节点，一个数据节点对应于一个待处理数据集，数据节点为基于待处理数据集所包括的多个待处理数据所确定出的统计数据，目标控制图用于指示多个数据节点的分布情况；

对于至少一个待处理数据集，基于待处理数据集所包括的待处理数据，生成待处理数据集对应的数据分布图，数据分布图用于指示待处理数据集所包括的多个待处理数据的数据分布情况；

显示目标控制图，目标控制图中所包括的数据节点用于在被触发后显示所对应的待处理数据集的数据分布图。

在本发明的一些实施例中，基于多个待处理数据集，通过目标数据处理模型，生成目标控制图，包括：

通过目标数据处理模型，识别多个待处理数据集所包括的待处理数据的数据类型；

通过目标数据处理模型，确定与数据类型匹配的控制图类型，并生成满足控制图类型的目标控制图。

在本发明的一些实施例中，数据类型包括连续型数据和离散型数据；

确定与数据类型匹配的控制图类型，包括下述任一项：

在多个待处理数据集所包括的待处理数据为连续型数据的情况下，将目标控制图的控制图类型确定为多图控制图；

在多个待处理数据集所包括的待处理数据为离散型数据的情况下，将目标控制图的控制图类型确定为单图控制图。

在本发明的一些实施例中，多图控制图包括双图控制图和三图控制图，其中，双图控制图包括均值-极差控制图、单值-移动极差控制图和均值-标准差控制图，三图控制图包括均值-移动极差-标准差控制图和均值-移动极差-极差控制图；

在多个待处理数据集所包括的待处理数据为连续型数据的情况下，将目标控制图的控制图类型确定为多图控制图，包括：

在多个待处理数据集所包括的待处理数据为连续型数据的情况下，从均值-极差控制图、单值-移动极差控制图、均值-标准差控制图、均值-移动极差-标准差控制图、均值-移动极差-极差控制图中，确定目标控制图的控制图类型。

在本发明的一些实施例中，单图控制图包括不合格品数控制图、不良率控制图、缺点数控制图、每个单位的缺点数控制图；