[发明专利]事件检测像素电路、事件图像传感器和电子装置在审
申请号: | 202211695096.9 | 申请日: | 2022-12-28 |
公开(公告)号: | CN115988344A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 黄猷淳;孙伯伟;陈永福 | 申请(专利权)人: | 神盾股份有限公司 |
主分类号: | H04N25/40 | 分类号: | H04N25/40 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 罗莎;陈金林 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 事件 检测 像素 电路 图像传感器 电子 装置 | ||
1.一种事件检测像素电路,包括:单光子雪崩二极管、数据产生单元、数据寄存单元和比较单元,其中,
所述单光子雪崩二极管被配置为探测光信号并输出电脉冲信号;
所述数据产生单元被配置为基于所述单光子雪崩二极管输出的电脉冲信号的计数生成与光强对应的第一数据;
所述数据寄存单元被配置为寄存第二数据;
所述比较单元被配置为对所述第一数据和所述第二数据进行比较而输出事件检测结果。
2.根据权利要求1所述的事件检测像素电路,其中,所述第一数据为与第一计数时段的光强对应的数据,
所述数据产生单元还被配置为基于所述单光子雪崩二极管输出的电脉冲信号的计数生成与第二计数时段的光强对应的所述第二数据;
所述第二计数时段早于所述第一计数时段。
3.根据权利要求2所述的事件检测像素电路,其中,
所述数据产生单元包括第一数据产生子单元和第二数据产生子单元;
所述数据寄存单元包括第一数据寄存子单元和第二数据寄存子单元;
所述第一数据寄存子单元被配置为寄存所述第一数据产生子单元生成的数据;
所述第二数据寄存子单元被配置为寄存所述第二数据产生子单元生成的数据;
所述第一数据产生子单元和所述第二数据产生子单元轮换工作;并且
所述比较单元被配置为对所述第一数据产生子单元所产生的第一数据和所述第二数据寄存子单元所寄存的第二数据进行比较,或者,对所述第二数据产生子单元所产生的第一数据和所述第一数据寄存子单元所寄存的第二数据进行比较。
4.根据权利要求3所述的事件检测像素电路,其中,
所述第一数据产生子单元和所述第一数据寄存子单元集成为第一脉冲计数寄存器;并且
所述第二数据产生子单元和所述第二数据寄存子单元集成为第二脉冲计数寄存器。
5.根据权利要求4所述的事件检测像素电路,其中,所述第一脉冲计数寄存器和所述第二脉冲计数寄存器中的每个被配置为:
根据切换信号在计数模式和寄存模式之间进行切换,其中,在所述计数模式下,对所述电脉冲信号进行计数并生成所述第一数据,在所述寄存模式下,寄存所述第二数据;以及
根据复位信号,在所述计数模式下的每个计数时段开始时进行复位。
6.根据权利要求5所述的事件检测像素电路,其中,
在所述第一脉冲计数寄存器在所述第一计数时段或所述第二计数时段工作在所述计数模式且所述第二脉冲计数寄存器在所述第一计数时段或所述第二计数时段工作在所述寄存模式的情况下,响应于所述事件检测结果指示所述第一数据和所述第二数据之差大于等于第一阈值或指示所述第二数据和所述第一数据之差大于等于第二阈值,在所述第一计数时段或所述第二计数时段相邻的下一个计数时段中,所述第一脉冲计数寄存器从所述计数模式切换为所述寄存模式,所述第二脉冲计数寄存器从所述寄存模式切换为所述计数模式。
7.根据权利要求1~6任一项所述的事件检测像素电路,其中,
所述数据产生单元被配置为对所述单光子雪崩二极管输出的电脉冲信号进行计数,以得到第一脉冲计数值;并且
所述第一数据为所述第一脉冲计数值。
8.根据权利要求1~6任一项所述的事件检测像素电路,其中,响应于所述事件检测结果指示所述第一数据和所述第二数据之差大于等于第一阈值或指示所述第二数据和所述第一数据之差大于等于第二阈值,在所述比较单元从所述数据寄存单元中获取所述第二数据之后,所述数据产生单元输出所述第一数据至所述数据寄存单元以将所述第二数据更新为所述第一数据。
9.根据权利要求1~6任一项所述的事件检测像素电路,其中,
所述数据产生单元被配置为基于所述单光子雪崩二极管输出第一预定数量的电脉冲信号的时段内的时钟信号的时钟计数值生成所述第一数据。
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