[发明专利]一种透反两用探头及太赫兹时域光谱系统在审
申请号: | 202211697263.3 | 申请日: | 2022-12-28 |
公开(公告)号: | CN116223434A | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 刘金鸽;施杰 | 申请(专利权)人: | 华太极光光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586;G01N21/25;G01N21/01 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 党蕾 |
地址: | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 两用 探头 赫兹 时域 光谱 系统 | ||
1.一种用于太赫兹时域光谱系统的透反两用探头,其特征在于,包括,
第一离轴抛物面镜,用于将太赫兹发射光电导天线发射的沿X轴正方向发散的太赫兹波反射为沿Z轴正方向的平行的太赫兹波;
第二离轴抛物面镜,设于所述第一离轴抛物面镜的Z轴正方向上,用于向Z轴负方向和Y轴负方向之间的一第一方向反射来自所述第一离轴抛物面镜的太赫兹波;
第一预留测试区域,设于所述第二离轴抛物面镜的所述第一方向上;
第三离轴抛物面镜,设于所述第一预留测试区域的Y轴正方向和Z轴负方向之间的一第二方向上,用于向Z轴正方向反射来自所述第一预留测试区域的太赫兹波;
第四离轴抛物面镜,设于所述第三离轴抛物面镜的Z轴正方向上,用于向Y轴负方向反射来自所述第三离轴抛物面镜的太赫兹波;
第五离轴抛物面镜,设于所述第四离轴抛物面镜的Y轴负方向上,所述第四离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜之间的光路上设有第二预留测试区域,所述第五离轴抛物面镜用于向Z轴负方向反射来自所述第四离轴抛物面镜的太赫兹波;
第六离轴抛物面镜,设于所述第五离轴抛物面镜的Z轴负方向上,用于将来自所述第五离轴抛物面镜的太赫兹波反射至太赫兹接收光电导天线。
2.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第二离轴抛物面镜和所述第一离轴抛物面镜中心之间具有第一距离,所述第一预留测试区域和所述第二离轴抛物面镜中心之间具有第二距离,所述第三离轴抛物面镜和所述第一预留测试区域之间具有第三距离,所述第四离轴抛物面镜和所述第三离轴抛物面镜中心之间具有第四距离,所述第二预留测试区域和所述第四离轴抛物面镜中心之间具有第五距离,所述第五离轴抛物面镜和所述第二预留测试区域之间具有第六距离,所述第六离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜中心之间具有第七距离。
3.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第一预留测试区域上设有待测样品。
4.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第一预留测试区域上设有椭圆反射镜,所述第二预留测试区域上设有待测样品。
5.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第二预留测试区域设于所述第四离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜之间的光路交点上。
6.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,基于所述第六离轴抛物面镜焦点,所述第六离轴抛物面镜焦点和所述太赫兹接收光电导天线之间具有设定的距离。
7.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第一预留测试区域为反射样品测试区域,所述第二预留测试区域为透射样品测试区域。
8.根据权利要求1所述的透反两用探头,其特征在于,所述第一方向和所述第二方向与Y轴具备相同的夹角。
9.一种透反两用太赫兹时域光谱系统,其特征在于,包括,
一飞秒光线激光器,所述飞秒光线激光器输出一泵浦光和一探测光;
所述太赫兹发射光电导天线,通过一第一光纤连接所述飞秒光线激光器,接收所述泵浦光,并于所述泵浦光激励产生入射太赫兹波;
如权利要求1-8中任意一项所述的透反两用探头,所述透反两用探头接收所述入射太赫兹波并产生携带待测样品信息的输出太赫兹波;
所述太赫兹接收光电导天线,接收所述探测光和所述携带待测样品信息的输出太赫兹波,并将光信号转化为电信号,输出所述待测样品的信息。
10.根据权利要求9所述的透反两用太赫兹时域光谱系统,其特征在于,所述太赫兹接收光电导天线通过一第二光纤和一第三光纤连接所述飞秒光线激光器,接收所述探测光和所述携带待测样品的信息的输出太赫兹波,并将光信号转化为电信号,输出所述待测样品的信息;所述第二光纤和所述第三光纤之间设有用于改变所述探测光的光程的光学延迟线。
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