[发明专利]一种透反两用探头及太赫兹时域光谱系统

说明书

本发明涉及光电技术领域，具体涉及一种透反两用探头及太赫兹时域光谱系统，探头包括，第一离轴抛物面镜，第二离轴抛物面镜，第一预留测试区域，设于第二离轴抛物面镜的第一方向上；第三离轴抛物面镜，第一预留测试区域第二方向上，第四离轴抛物面镜。第五离轴抛物面镜，设于第四离轴抛物面镜的Y轴负方向上，第四离轴抛物面镜和第五离轴抛物面镜之间的光路上设有第二预留测试区域，第六离轴抛物面镜将来自第五离轴抛物面镜的太赫兹波反射至太赫兹接收光电导天线。本发明通过提供透反两用探头，减少资源浪费，操作简单，随换随用，适应性强，可根据器件光程设置合适的探头类型。

技术领域

本发明涉及光电技术领域，具体涉及一种透反两用探头以及太赫兹时域光谱系统。

背景技术

目前太赫兹检测系统应用范围较广，且测量方式多样，包括透射式太赫兹检测系统，反射式太赫兹检测系统。而国内太赫兹检测系统器件制造技术并不完善，使得太赫兹检测系统造价昂贵，因此传统的一机一用模式造成了严重的资源浪费，单光电导天线价格就要十几万。而目前市场上已有的单模块多功能太赫兹检测系统虽然可以一机多用，但是测试系统往往结构复杂，操作困难，使用不同功能往往需要使用者手动调节内部器件以改变系统光路，这将使太赫兹检测系统的稳定性在手动调节的过程中降低，大大影响其工作效率。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种透反两用探头，解决以上技术问题；

本发明的目的还在于，提供一种透反两用太赫兹时域光谱系统，解决以上技术问题。

本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：

一种透反两用探头，包括，

第一离轴抛物面镜，用于将太赫兹发射光电导天线发射的沿X轴正方向发散的太赫兹波反射为沿Z轴正方向的平行的太赫兹波；

第二离轴抛物面镜，设于所述第一离轴抛物面镜的Z轴正方向上，用于向Z轴负方向和Y轴负方向之间的一第一方向反射来自所述第一离轴抛物面镜的太赫兹波；

第一预留测试区域，设于所述第二离轴抛物面镜的所述第一方向上；

第三离轴抛物面镜，设于所述第一预留测试区域的Y轴正方向和Z轴负方向之间的一第二方向上，用于向Z轴正方向反射来自所述第一预留测试区域的太赫兹波；

第四离轴抛物面镜，设于所述第三离轴抛物面镜的Z轴正方向上，用于向Y轴负方向反射来自所述第三离轴抛物面镜的太赫兹波；

第五离轴抛物面镜，设于所述第四离轴抛物面镜的Y轴负方向上，所述第四离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜之间的光路上设有第二预留测试区域，所述第五离轴抛物面镜用于向Z轴负方向反射来自所述第四离轴抛物面镜的太赫兹波；

第六离轴抛物面镜，设于所述第五离轴抛物面镜的Z轴负方向上，用于将来自所述第五离轴抛物面镜的太赫兹波反射至太赫兹接收光电导天线。

优选的，所述第二离轴抛物面镜和所述第一离轴抛物面镜中心之间具有第一距离，所述第一预留测试区域和所述第二离轴抛物面镜中心之间具有第二距离，所述第三离轴抛物面镜和所述第一预留测试区域之间具有第三距离，所述第四离轴抛物面镜和所述第三离轴抛物面镜中心之间具有第四距离，所述第二预留测试区域和所述第四离轴抛物面镜中心之间具有第五距离，所述第五离轴抛物面镜和所述第二预留测试区域之间具有第六距离，所述第六离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜中心之间具有第七距离。

优选的，所述第一预留测试区域上设有待测样品。

优选的，所述第一预留测试区域上设有椭圆反射镜，所述第二预留测试区域上设有待测样品。

优选的，所述第二预留测试区域设于所述第四离轴抛物面镜和所述第五离轴抛物面镜之间的光路交点上。