[发明专利]一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法在审
申请号: | 202211697588.1 | 申请日: | 2022-12-28 |
公开(公告)号: | CN115828469A | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 孙韵韵;吴兵;巫世晶 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G06F30/17 | 分类号: | G06F30/17;G06F119/14 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 黄靖 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 计算 晶圆键合 界面 接触 振动 固有频率 方法 | ||
1.一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、利用原子力显微镜测量晶圆的表面形貌,根据测得的轮廓高度分布计算晶圆表面的分形维数和分形粗糙度,获得具有纳观粗糙分形特征的晶圆表面轮廓高度函数;
S2、构建纳观尺度上具有光滑轮廓的基体,根据晶圆表面的轮廓高度函数实现基体表面原子的筛选和删除,从而建立具有纳观粗糙分形特征的晶圆键合界面分子动力学模型;
S3、模拟晶圆界面的动态键合过程,获取不同键合力下晶圆表面的等效变形量,拟合得到键合力关于晶圆法向变形量的函数关系;
S4、将晶圆键合界面的法向接触振动等效为单自由度弹簧质量系统,求解键合界面非线性振动的微分方程,确定晶圆键合界面接触振动固有频率。
2.根据权利要求1所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于,所述步骤S1包括以下步骤:
利用原子力显微镜测量晶圆的表面轮廓高度分布,根据晶圆表面在纳尺度的粗糙形貌计算其表面的自相关函数R(τ),通过对自相关函数R(τ)进行傅氏变换得到晶圆表面的功率谱函数S(ω),采用最小二乘法对功率谱函数S(ω)与空间频率ω的双对数散点图进行拟合,根据拟合直线的斜率K0与截距B0确定晶圆表面的分形维数D和分形粗糙度G,获得具有纳观粗糙分形特征的晶圆表面轮廓高度函数Z(x,y)。
3.根据权利要求1所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于:所述S2具体为:
在分子动力学软件中构建纳尺度的光滑规则基体,根据晶圆表面的轮廓高度函数Z(x,y)实现基体表面原子的筛选和删除,得到与实际更相符的、具有纳观粗糙分形表面的晶圆,从而建立纳尺度下晶圆键合界面的分子动力学模型。
4.根据权利要求3所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于:通过判定晶圆表面不同位置处(x,y)对应的轮廓高度值z(x,y)与该位置原子的z轴坐标值大小进行原子的筛选,即筛选并删除z轴坐标值高于对应的轮廓高度值z(x,y)的基体表面原子。
5.根据权利要求3所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于:所述分子动力学模型x、y向设置为周期性边界条件,z向设置为非周期性边界条件,以此消除边界效应;通过系综对接触体系进行约束,确保模拟在宏观稳定条件进行;通过校正因子控制恒温层的温度为室温,从而消除原子热运动效应,在上、下两晶圆键合过程中,原子间相互作用力用势函数描述。
6.根据权利要求1所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于:所述S3具体为:
匀速移动具有纳观粗糙分形轮廓的基体,模拟上、下两晶圆的动态键合过程,获得界面在不同法向变形量δ时所需的键合力Fb,拟合得到键合力Fb与法向变形量δ间的幂律函数关系,可表示为:
式中,参数k,n均是拟合系数,E表示下晶圆的弹性模量,A0表示名义接触面积,L表示取样长度,其取值根据晶圆表面x、y方向的取样长度确定。
7.根据权利要求6所述的一种计算晶圆键合界面接触振动固有频率的方法,其特征在于:将键合力Fb和法向变形量δ归一化处理得到无量纲键合力Fb*和无量纲法向变形量δ*,拟合得到无量纲键合力Fb*与无量纲法向变形量δ*间的幂律函数关系,可表示为:
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