[发明专利]基于ARM cortex-M内核的存储器检测方法

权利要求书

1.一种基于ARM cortex-M内核的存储器检测方法，其特征在于，包括：

采用符合ARM汇编指令集的编码规范进行编码，使用汇编代码作为算法检测的框架，并使用存储器业界通用检测算法，能够在上电并配置完毕系统主频时钟后执行检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用符合ARM汇编指令集的编码规范进行编码，使用汇编代码作为算法检测的框架，并使用存储器业界通用检测算法，能够在上电并配置完毕系统主频时钟后执行检测，包括：

获取SRAM第一次自检的结果；

依据第一次自检的结果，判断上电启动是冷启动还是热启动；

若是冷启动，获取存储SRAM自检结果的地址偏移量；

若地址偏移量小于或等于预设值，则获取SRAM自检结果的存储区域的起始地址和区域大小；

获取起始堆栈指针；

对起始堆栈指针之后的SRAM空间进行自检；

若第二次自检通过，则备份全部栈数据，向前移动堆栈指针；

对起始堆栈指针之前的SRAM空间进行自检；

若第三次自检通过，则还原全部栈数据，存储三次自检结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若是热启动，或地址偏移量大于预设值，则结束整个流程。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若第二次自检未通过，则存储第二次自检错误现场相关信息。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若第三次自检未通过，则存储第三次自检错误现场相关信息，并还原全部栈数据。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，预设值为16个字节。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当前将要备份全部栈数据的长度＝起始堆栈指针-当前SP指针。

8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当前SP指针＝当前SP指针+0x200。