[发明专利]一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统

权利要求书

1.一种可频率校准的温补晶振测试系统，其特征在于，包括：

测试板模块，所述测试板模块用于连接待测试温补晶振，读取待测试温补晶振的频率信号；

温度补偿参数计算模块，所述温度补偿参数计算模块用于根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号。

2.根据权利要求1所述的一种可频率校准的温补晶振测试系统，其特征在于，所述温度补偿参数计算模块包括：

偏移频率计算模块，所述偏移频率计算模块用于获取已读取的温补晶振的频率信号，根据偏移频率计算公式计算当前温补晶振频率的偏移频率，判断偏移频率是否位于预设范围内，其中，Foffset为当前温补晶振的偏移频率，F读为已读取的实际频率，F标为标准频率；

频率合格判断模块，所述频率合格判断模块用于判断当前温补晶振的偏移频率是否位于预设范围内，若当前温补晶振的偏移频率位于预设范围内，则频率信号正常，表明该晶振频率不需要校准；若当前温补晶振的频偏值在预设范围外，则判断该频率信号为异常；

温度补偿参数更新模块，所述温度补偿参数更新模块用于计算细调参数值，根据细调参数值更新温度补偿参数值，返回温度补偿参数值。

3.根据权利要求2所述的一种可频率校准的温补晶振测试系统，其特征在于，所述温度补偿参数更新模块包括：

细调参数计算模块，获取初始细调参数值和步进变化值，根据细调参数计算公式：计算细调参数值，其中，E为细调参数值，Foffset为偏移频率，Val为步进变化值，E初为初始细调参数值；

细调参数返回模块，所述细调参数返回模块用于返回所述细调参数值，根据细调参数值更新温度补偿参数值。

4.一种可频率校准的温补晶振测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-3任一项所述的一种可频率校准的温补晶振测试系统，包括以下步骤：

S100：连接待测试温补晶振，读取待测试温补晶振的频率信号；

S200：根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号。

5.根据权利要求4所述的一种可频率校准的温补晶振测试方法，其特征在于，所述的根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号的步骤，具体包括：

S210：获取已读取的温补晶振的频率信号，根据偏移频率计算公式计算当前温补晶振频率的偏移频率，判断偏移频率是否位于预设范围内，其中，Foffset为当前温补晶振的偏移频率，F读为已读取的实际频率，F标为标准频率；

S220：判断当前温补晶振的偏移频率是否位于预设范围内，若当前温补晶振的频偏位于预设范围内，则频率信号正常，表明该晶振频率不需要校准；若当前温补晶振的频偏值在预设范围外，则判断该频率信号为异常，进入下一步骤；

S230：计算细调参数值，根据细调参数值返回温度补偿参数值，重复步骤S210、S220。

6.根据权利要求5所述的一种可频率校准的温补晶振测试方法，其特征在于，所述计算细调参数值，根据细调参数值返回温度补偿参数值，重复步骤S210、S220的步骤，具体包括：

S231：获取初始细调参数值和步进变化值，根据细调参数计算公式：计算细调参数值，其中，E为细调参数值，Foffset为偏移频率，Val为步进变化值，E初为初始细调参数值；

S232：返回所述细调参数值，根据细调参数值更新温度补偿参数值，重复步骤S210、S220。