[发明专利]一种全包封TO-220F二极管制造方法在审
申请号: | 202211737633.1 | 申请日: | 2022-12-31 |
公开(公告)号: | CN115881536A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 万奎;丁伟 | 申请(专利权)人: | 常州星海电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/56;H01L21/66 |
代理公司: | 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 | 代理人: | 于雅洁 |
地址: | 213000 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 全包封 to 220 二极管 制造 方法 | ||
本发明公开了一种全包封TO‑220F二极管制造方法,具体涉及全包封技术领域,具体制造工艺步骤如下:步骤一、材料进厂检验;步骤二、划片;步骤三、上芯;步骤四、焊线;步骤五、QC检;步骤六、塑封;步骤七、后固化;步骤八、去溢料;步骤九、电镀;步骤十、剪切;步骤十一、绝缘测试;步骤十二、DC测试;步骤十三、打印;步骤十四、外观检验;步骤十五、包装;步骤十六、QA检验;步骤十七、入库。本发明生产制造方便,通过对TO‑220F产品结构的研究,解决了TO‑220F产品包封均匀性问题、塑封顶针孔填胶问题和绝缘测试问题,装配后的产品质量、电参数稳定,安全性能相对较高,抗干扰能力强。
技术领域
本发明涉及全包封技术领域,更具体地说,本发明涉及一种全包封TO-220F二极管制造方法。
背景技术
功率器件产品发展的方向是全包封,据国外权威机构预测,全包封形式的功率器件在计算机及其外设,通信网络、电子专用设备、仪器仪表、汽车电子等领域的运用将逐步取代传统的半包封产品,市场规模也将大幅度提升。
传统的半导体功率器件多为半包形式(TO-220、TO-3P等),其优势在于散热性能好,功率大,封装工艺相对简单。但当有新标准出现时,会出现一些由于设计本身导致的缺陷,如电参数不稳定,安全性能相对较差,抗干扰能力偏低等等。
发明内容
本发明技术方案针对现有技术解决方案过于单一的技术问题,提供了显著不同于现有技术的解决方案,为了克服现有技术的上述缺陷,本发明的实施例提供一种全包封TO-220F二极管制造方法。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种全包封TO-220F二极管制造方法,具体制造工艺步骤如下:
步骤一、材料进厂检验,对进厂的二极管制造材料进行检验,检验包括对二极管制造材料的规格尺寸、零件重量和运输过程中有无堆压损坏;
步骤二、划片,采用划片机对二极管进行划片处理;
步骤三、上芯,采用上芯机进行上芯处理;
步骤四、焊线,采用OE双头焊线机在生产过程中,左边焊头负责焊接框架偶数位置的产品,右边焊头负责焊接框架奇数位置的产品;
步骤五、QC检,对材料的规格、型号、数量、物理化学特性进行质检;
步骤六、塑封,将焊线后的框架置入模具中,采用树脂胶体对二极管芯片进行注塑压制成型,得到树脂胶体封装的成品二极管组件;
步骤七、后固化,将上述塑封后的二极管组件放入烘箱中烘烤;
步骤八、去溢料,配置混合酸液去除固化后二极管组件的引线及框架上的溢料;
步骤九、电镀,对成品二极管组件伸出树脂胶体封装部位之外的料片框架进行镀锡;
步骤十、剪切;
步骤十一、绝缘测试,采用绝缘测试仪对成品二极管组件进行绝缘测试;
步骤十二、DC测试;
步骤十三、打印;
步骤十四、外观检验,对加工的成品二极管进行外观检验,外观检验包括颜色的色差、表面有无缺损;
步骤十五、包装,对制造完成的成品二极管进行包装处理;
步骤十六、QA检验,对成品进行抽样检验提供检验依据和判定标准;
步骤十七、入库。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造