[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待测显示装置的当前显示图像；其中，所述当前显示图像是由所述待测显示装置通过显示标准图形得到的；

从所述当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框；

基于所述显示边框的几何特征，对所述待测显示装置进行缺陷检测，得到所述待测显示装置的检测结果；

其中，所述检测结果包括所述待测显示装置是否存在缺陷，以及在检测到缺陷的情况下所述缺陷的位置信息；所述几何特征包括以下至少之一：所述显示边框的显示面积、所述显示边框的夹角、所述显示边框中端点的位置关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述显示边框的几何特征，对所述待测显示装置进行缺陷检测，得到所述待测显示装置的检测结果，包括：

基于所述显示边框的显示面积，对所述待测显示装置进行第一次检测，得到所述待测显示装置是否存在缺陷的检测结果；

在所述显示边框的显示面积属于预设面积范围的情况下，基于所述显示边框的夹角和所述显示边框中端点的位置关系，对所述待测显示装置进行第二次检测，以得到存在缺陷的情况下所述缺陷的位置信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述显示边框的几何特征，对所述待测显示装置进行缺陷检测，得到所述待测显示装置的检测结果，还包括：

对所述当前显示图像进行连通域统计，得到所述显示边框上像素点的像素数量，并将所述像素数量确定为所述显示边框的显示面积；

在所述显示边框的显示面积不属于所述预设面积范围的情况下，确定所述待测显示装置存在缺陷。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述显示边框的夹角和所述显示边框中端点的位置关系，对所述待测显示装置进行第二次检测，以得到存在缺陷的情况下所述缺陷的位置信息，包括：

基于所述显示边框中像素点的坐标，确定所述显示边框的角点；

基于所述角点，确定所述显示边框中相邻边框之间的夹角；

在所述夹角大于角度阈值的情况下，确定所述待测显示装置存在角点缺陷，其中，存在所述角点缺陷的角点坐标能够得到所述角点缺陷的位置信息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述标准图形为具有对角线的矩形；所述基于所述显示边框的夹角和所述显示边框中端点的位置关系，对所述待测显示装置进行第二次检测，以得到存在缺陷的情况下所述缺陷的位置信息，包括：

在所述夹角小于或等于所述角度阈值的情况下，基于所述角点的坐标，从所述当前显示图像中获取所述矩形的矩形边框区域；

从所述矩形边框区域中确定第一端点和第二端点；其中，所述第一端点和所述第二端点位于所述矩形上的同一矩形边，所述第一端点和所述第二端点之间的距离为所述矩形上的同一矩形边上所有端点之间的最小距离；

在所述第一端点和所述第二端点属于所述矩形边框区域中的不同连通域的情况下，确定所述待测显示装置存在边框缺陷，其中，所述第一端点的坐标和所述第二端点的坐标能够得到所述边框缺陷的位置信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述从所述矩形边框区域中确定第一端点和第二端点，包括：

对所述矩形边框区域进行图像掩膜处理，得到掩膜处理后的矩形边框区域；

获取所述掩膜后的矩形边框区域中矩形边的所有端点；

将所述矩形边的所有端点中距离最小的两个端点确定为所述第一端点和所述第二端点。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述当前显示图像为灰度图像；所述从所述当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框，包括：

对所述当前显示图像进行二值化处理，得到二值化图像；

获取所述二值化图像中预设灰度值的连通域；

将面积最大的连通域确定为所述标准图形的显示边框。