[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中，所述方法包括：获取待测显示装置的当前显示图像；其中，当前显示图像是由待测显示装置通过显示标准图形得到的；从当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框；基于显示边框的几何特征，对待测显示装置进行缺陷检测，得到待测显示装置的检测结果；其中，检测结果包括待测显示装置是否存在缺陷，以及在检测到缺陷的情况下缺陷的位置信息；几何特征包括以下至少之一：显示边框的显示面积、显示边框的夹角、显示边框中端点的位置关系。

技术领域

本公开涉及但不限于计算机技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在生产电脑、平板等显示器屏幕过程中，时常会因屏幕与塑料外边框的组装不到位、边框区域存在异物遮挡等因素导致屏幕与外边框处出现缺陷，这些缺陷通过人眼观察不仅难以发现，而且需要投入大量人工成本。相关技术中，利用基于计算机视觉的自动化设备与技术进行该缺陷的检测，但存在执行速度慢、结果不准确以及对缺陷位置的定位也不准确等问题。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例至少提供一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

本公开实施例的技术方案是这样实现的：

一方面，本公开实施例提供一种缺陷检测方法，包括：获取待测显示装置的当前显示图像；其中，所述当前显示图像是由所述待测显示装置通过显示标准图形得到的；从所述当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框；基于所述显示边框的几何特征，对所述待测显示装置进行缺陷检测，得到所述待测显示装置的检测结果；其中，所述检测结果包括所述待测显示装置是否存在缺陷，以及在检测到缺陷的情况下所述缺陷的位置信息；所述几何特征包括以下至少之一：所述显示边框的显示面积、所述显示边框的夹角、所述显示边框中端点的位置关系。

另一方面，本公开实施例提供一种缺陷检测装置，包括：获取模块，用于获取待测显示装置的当前显示图像；其中，所述当前显示图像是由所述待测显示装置通过显示预设的标准图形得到的；确定模块，用于从所述当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框；检测模块，用于基于所述显示边框的几何特征，对所述待测显示装置进行缺陷检测，得到所述待测显示装置的检测结果；其中，所述检测结果包括所述待测显示装置是否存在缺陷，以及在检测到缺陷的情况下所述缺陷的位置信息；所述几何特征包括以下至少之一：所述显示边框的显示面积、所述显示边框的夹角、所述显示边框中端点的位置关系。

再一方面，本公开实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法中的部分或全部步骤。

又一方面，本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法中的部分或全部步骤。

又一方面，本公开实施例提供一种计算机程序，包括计算机可读代码，当所述计算机可读代码在计算机设备中运行时，所述计算机设备中的处理器执行用于实现上述方法中的部分或全部步骤。

又一方面，本公开实施例提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，所述计算机程序被计算机读取并执行时，实现上述方法中的部分或全部步骤。