[实用新型]一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物有效
| 申请号： | 202220026155.2 | 申请日： | 2022-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN217766197U | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 李雄伟;姜亚南;张重远;曲爽;孙明妍;杨寻;时园园 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04;G01N1/28 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 非均质 材料 电阻率 样品 组合 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述样品组合由非均质材料样品、纯铜样品和纯铜辅助块样品组成，其中：
所述非均质材料样品由非均质材料本体和两块纯铜块组成，其中纯铜块分别位于非均质材料本体上下两端，并通过银浆粘结在非均质材料本体上，纯铜块与非均质材料本体的截面尺寸相同；
所述纯铜辅助块样品由两块纯铜块组成，两块纯铜块通过银浆粘结在一起。
2.按照权利要求1所述用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述纯铜块的截面尺寸相同。
3.按照权利要求1所述用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述纯铜块材质为无氧铜。
4.按照权利要求1所述用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述纯铜块端面与轴线垂直，上下两端面平行度小于20μm。
5.按照权利要求1所述用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述非均质材料本体端面与轴线垂直，上下两端面平行度小20μm。
6.按照权利要求1所述用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述银浆为导电银浆，含银量≥90%。
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