[实用新型]一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物

说明书

本实用新型的目的在于提供一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，所述样品组合由非均质材料样品、纯铜样品和纯铜辅助块样品组成，其中：所述非均质材料样品由非均质材料本体和两块纯铜块组成，其中纯铜块分别位于非均质材料本体上下两端，并通过导电银浆粘结在非均质材料本体上，纯铜块与非均质材料本体的截面尺寸相同；所述纯铜辅助块样品由两块纯铜块组成，两块纯铜块通过导电银浆粘结在一起。应用该样品组合物可解决四触点测试样品电压时由于样品不均匀导致误差较大的问题。

技术领域

本实用新型属于材料电性能测试领域，特别提供一种用于四触点法测试非均质复合材料电阻率的样品组合物。

背景技术

四触点法是比较好的消除引线电阻引入误差(或将其降至较小)的测试方案。一般用于测量较低阻值的电阻，四触点法能够进行更精确测量的原理是：样品的电流和电压测量通过电流回路和电压回路分别测量，消除引线和探针接触电阻的阻抗，从而得到更准确的电阻值(见图1)。

四触点法在测试均质材料时，电压电极在样品上的取点位置无差别。但在测试层状复合材料或非均质样品时，电压电极在不同取样位置测得的电压值差异较大，导致结果误差大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，主要解决四触点测试样品电压时由于样品不均匀导致误差较大的问题。

本发明技术方案如下：

一种用于测试非均质材料电阻率的样品组合物，其特征在于：所述样品组合由非均质材料样品、纯铜样品和纯铜辅助块样品组成，其中：

所述非均质材料样品由非均质材料本体和两块纯铜块组成，其中纯铜块分别位于非均质材料本体上下两端，并通过银浆粘结在非均质材料本体上，纯铜块与非均质材料本体的截面尺寸相同；

所述纯铜辅助块样品由两块纯铜块组成，两块纯铜块通过银浆粘结在一起。

进一步地：

所述纯铜块的截面尺寸相同。

所述纯铜块材质为无氧铜。

所述纯铜块端面与轴线垂直，上下两端面平行度小于20μm。

所述非均质材料本体端面与轴线垂直，上下两端面平行度小20μm。

所述银浆为导电银浆，含银量≥90％。

采用本实用新型所述样品组合物测试非均质材料电阻率的具体步骤如下：

步骤一、制备非均质材料本体，测量非均质材料本体的长、宽、高(计算其电阻率用)。

步骤二、制备纯铜样品，测试纯铜样品电阻率(计算纯铜块的电阻用)。

步骤三、制备多组纯铜块，其横截面尺寸与非均质材料本体截面尺寸一致。将两个纯铜块通过导电银浆粘结在一起制备成纯铜辅助块样品，然后测试其整体的电阻，与纯铜样品电阻相比较，减去两纯铜块的电阻，得到接触电阻，多次测量取其平均值，得到平均接触电阻。

步骤四、将非均质材料本体与纯铜块通过导电银浆粘结在一起，形成中间是非均质材料，两端是纯铜块的组合体，测试该组合体的整体电阻(如图3所示，图中非均质材料本体选用复合材料)。

步骤五、测量纯铜块实际参与电阻测量的有效长度，计算纯铜块参与测量的有效电阻。总电阻减去纯铜块的有效电阻及平均接触电阻。得到非均质材料的电阻。根据非均质材料本体的尺寸，计算其电阻率。

步骤六、测试非均质材料不同方向的电阻率。