[实用新型]一种电子存储产品高低温老化测试设备有效
申请号: | 202220102865.9 | 申请日: | 2022-01-15 |
公开(公告)号: | CN217238240U | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 丁美锋 | 申请(专利权)人: | 江苏华存电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人: | 丁桂红 |
地址: | 226399 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 存储 产品 低温 老化 测试 设备 | ||
1.一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,包括:
测试箱主体(1),所述测试箱主体(1)的内部上方开设有低温老化室(8),所述测试箱主体(1)的内部下方开设有高温老化室(11),所述高温老化室(11)的前端活动设有第二防护门(3),所述低温老化室(8)的前端活动设有第一防护门(2);
滑槽(9),其开设在所述低温老化室(8)的内壁,所述滑槽(9)的内部活动设有检测托板(10),所述检测托板(10)的左右两壁后端固定设有滑轨(15),所述滑轨(15)的内部活动设有滚轮(16);
固定板(12),其活动设在所述检测托板(10)的上方,所述固定板(12)的一端活动设有弹簧转轴(17),所述固定板(12)的内壁固定设有防护垫(13),所述防护垫(13)的内侧活动设有电子产品盒(14)。
2.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述检测托板(10)通过滑轨(15)与滑槽(9)相互卡合,所述检测托板(10)通过滑轨(15)和滚轮(16)与滑槽(9)构成滑动结构,所述检测托板(10)与滑轨(15)二者呈一体式固定。
3.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述防护垫(13)与固定板(12)的内壁固定胶粘连接,所述固定板(12)的结构为半圆环型结构,所述固定板(12)通过弹簧转轴(17)与检测托板(10)构成转动结构。
4.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述测试箱主体(1)还设有:
第二防护箱(6),其固定设在所述测试箱主体(1)的后端上方,所述第二防护箱(6)的内部固定安装有制冷机(7)。
5.根据权利要求4所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述第二防护箱(6)还设有:
第一防护箱(4),其固定安装在所述第二防护箱(6)的下方,所述第一防护箱(4)的内部固定安装有电热器(5),所述第一防护箱(4)与测试箱主体(1)的后壁固定连接,所述测试箱主体(1)、第一防护箱(4)和第二防护箱(6)三者呈一体式固定。
6.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述测试箱主体(1)还设有:
制冷铜管(18),其固定设置在所述测试箱主体(1)的内部后壁,所述制冷铜管(18)的下方设有电热丝(19),所述电热丝(19)与测试箱主体(1)的内部后壁固定连接。
7.根据权利要求1所述的一种电子存储产品高低温老化测试设备,其特征在于,所述高温老化室(11)的尺寸与低温老化室(8)的尺寸相同,所述第一防护门(2)的尺寸与低温老化室(8)的尺寸相互匹配。
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