[实用新型]一种电子存储产品高低温老化测试设备

说明书

本实用新型涉及老化测试设备技术领域，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体的内部下方开设有高温老化室，所述高温老化室的前端活动设有第二防护门，所述低温老化室的前端活动设有第一防护门；滑槽，其开设在所述低温老化室的内壁，所述滑槽的内部活动设有检测托板，所述检测托板的左右两壁后端固定设有滑轨；固定板，其活动设在所述检测托板的上方，所述固定板的一端活动设有弹簧转轴，所述固定板的内壁固定设有防护垫。本实用新型通过第二防护箱内部制冷机的工作，可以通过制冷铜管对低温老化室进行快速降温，以此可以在低温老化室内部进行低温测试。

技术领域

本实用新型涉及老化测试设备技术领域，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备。

背景技术

老化测试项目是指模拟电子产品在高低温环境条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，常见的老化主要有光照老化，湿热老化，热风老化，在现阶段存在的针对于电子元器件的老化测试箱中，基本多数都是通过固定的夹具对电子元器件进行夹持，在对不同型号与规格的电子元器件进行测试时需更换夹具。

现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题，为此，我们提出一种电子存储产品高低温老化测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电子存储产品高低温老化测试设备，以解决上述背景技术中提出由于现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：

测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体的内部下方开设有高温老化室，所述高温老化室的前端活动设有第二防护门，所述低温老化室的前端活动设有第一防护门；

滑槽，其开设在所述低温老化室的内壁，所述滑槽的内部活动设有检测托板，所述检测托板的左右两壁后端固定设有滑轨，所述滑轨的内部活动设有滚轮；

固定板，其活动设在所述检测托板的上方，所述固定板的一端活动设有弹簧转轴，所述固定板的内壁固定设有防护垫，所述防护垫的内侧活动设有电子产品盒。

优选的，所述检测托板通过滑轨与滑槽相互卡合，所述检测托板通过滑轨和滚轮与滑槽构成滑动结构，所述检测托板与滑轨二者呈一体式固定。

优选的，所述防护垫与固定板的内壁固定胶粘连接，所述固定板的结构为半圆环型结构，所述固定板通过弹簧转轴与检测托板构成转动结构。

优选的，所述测试箱主体还设有：

第二防护箱，其固定设在所述测试箱主体的后端上方，所述第二防护箱的内部固定安装有制冷机。

优选的，所述第二防护箱还设有：

第一防护箱，其固定安装在所述第二防护箱的下方，所述第一防护箱的内部固定安装有电热器，所述第一防护箱与测试箱主体的后壁固定连接，所述测试箱主体、第一防护箱和第二防护箱三者呈一体式固定。

优选的，所述测试箱主体还设有：

制冷铜管，其固定设置在所述测试箱主体的内部后壁，所述制冷铜管的下方设有电热丝，所述电热丝与测试箱主体的内部后壁固定连接。

优选的，所述高温老化室的尺寸与低温老化室的尺寸相同，所述第一防护门的尺寸与低温老化室的尺寸相互匹配。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种电子存储产品高低温老化测试设备，具备以下有益效果：该高低温老化测试设备通过滑轨内部的多个滚轮可以轻松的向前拉出检测托板，以此方便把装有电子元件的电子产品盒摆放到检测托板上，从而方便摆放和取出。