[实用新型]一种测试夹具及PL测试装置有效
申请号: | 202220242229.6 | 申请日: | 2022-01-28 |
公开(公告)号: | CN217278499U | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 曾燕 | 申请(专利权)人: | 通威太阳能(成都)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 方晓燕 |
地址: | 610000 四川省成都市双流*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 夹具 pl 装置 | ||
一种测试夹具及PL测试装置,属于太阳能电池技术领域。测试夹具包括限位板和支撑台。其中,限位板沿厚度方向设置有第一凹孔,支撑台环绕设置于第一凹孔的内壁,支撑台设置有第二凹孔。由于第一凹孔能够限制支撑台的大小和形状,而测试夹具相对于PL测试装置而言具有固定的位置,进而避免了利用PL测试装置对硅片进行测试时,硅片放置位置的变化。支撑台设置有第二凹孔,则在放置硅片时,硅片对应于第二凹孔开口部的区域不与支撑台接触,进而减小硅片的脏污。在测试夹具的边缘设置开口,便于操作人员取放硅片。
技术领域
本申请涉及太阳能电池技术领域,具体而言,涉及一种测试夹具及PL测试装置。
背景技术
硅异质结太阳电池(SHJ)技术近年来受到光伏学术界及工业界的广泛关注,因其开路电压高、转换效率高、温度系数低、工艺流程简单、无光致衰减等突出优点,成为高效太阳电池技术的热门发展方向。
在硅异质结太阳电池的生产和研发过程中,往往会对工艺过程中的半成品进行抽测或者监控,观察工艺是否正确或者工艺是否稳定。光致发光(Photoluminescence,简称PL)是一种检测内部缺陷最有效的方式,通常会采用PL测试系统对这些半成品进行检测,查看半成品是否存在缺陷。
然而,在利用现有的PL测试系统进行检测的过程中,存在硅片容易发生脏污、硅片取放困难以及硅片放置定位差等问题。
实用新型内容
基于上述的不足,本申请提供了一种测试夹具及PL测试装置,以部分或全部地改善、甚至解决相关技术中硅片容易发生脏污以及硅片放置定位差的问题。
本申请的上述技术问题是通过下述技术方案得以实现的:
在第一方面,本申请的示例提供了一种测试夹具,包括:
限位板,限位板具有第一表面,沿限位板的厚度方向设置有第一凹孔,第一凹孔的开口部位于第一表面,第一表面的边缘设置有与第一凹孔贯通的第一开口;
用于放置硅片的支撑台,支撑台环绕设置于第一凹孔的内壁,支撑台沿厚度方向设置有第二凹孔,支撑台具有第二表面,第二凹孔的开口部位于第二表面,第二表面的边缘设置有与第二凹孔贯通的第二开口;
其中,第一凹孔的开口部与第二凹孔的开口部贯通,第一开口与第二开口贯通。
在上述实现过程中,支撑台用于放置太阳能电池硅片。将支撑台环绕设置于限位板中第一凹孔的内壁,由于第一凹孔内壁的限制作用,使得支撑台具有与第一凹孔的截面(垂直于厚度方向的截面)形状尺寸相同的用于放置硅片的放置区域。在放置相同规格的不同太阳能电池硅片的过程中,能够避免硅片的放置位置发生偏差,提高硅片放置位置的准确性。
将硅片放置在设置有第二凹孔的支撑台中,由于太阳能电池硅片对应于第二凹孔的开口部的区域并未与支撑台接触,进而能够减小太阳能硅片放置于支撑台上时产生脏污(太阳能硅片四周的边缘部分为非镀膜的非核心部位,可耐脏污)。
并且在支撑台和限位板中设置开口,在将太阳能硅片取出的过程中,可以通过开口与硅片的上下表面接触,进而将硅片从第一凹孔的开口部取出,以降低硅片的取出难度(若不设置开口,硅片放置在支撑台上,支撑台的四周围绕有限位板,需要借助例如吸笔等专用的吸取工具才能将硅片从测试夹具中取出)。
结合第一方面,在本申请第一方面的第一种可能的实施方式中,第一凹孔的边缘与第二凹孔的边缘垂直于厚度方向的距离为1mm。
在上述实现过程中,将第一凹孔的边缘与第二凹孔的边缘的距离设置为1mm,使得支撑台用于与硅片接触的接触区域的宽度小于硅片中非核心区域的边缘的宽度,以此来避免硅片镀膜的核心区域与支撑台的接触,降低支撑台对硅片带来脏污的机率。
结合第一方面,在本申请第一方面的第二种可能的实施方式中,第一表面与第二表面沿厚度方向的距离为2mm。
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