[实用新型]一种芯片测试针清洁装置

说明书

本实用新型涉及半导体芯片检测设备技术领域，具体涉及一种芯片测试针清洁装置，包括：基座，基座上设置有至少一个安装位；清扫套筒，设置在安装位上，其内壁设置有环形毛刷；打磨头，设置有凹弧形磨槽，设置在清扫套筒的下端，连接有转动驱动源，转动驱动源用于驱使打磨头自转；本实用新型的清洁装置在基座上设置清扫套筒和打磨头，其中清扫套筒内设置环形毛刷用以清扫测试针侧表面的杂物，打磨头连接有转动驱动源且其上设置有凹弧形磨槽，通过转动驱动源驱使打磨头转动进而能够打磨测试针的针头部分，以将针头处的氧化物或氧化面磨去，保证针头与引脚或引线接触良好。

技术领域

本实用新型涉及半导体芯片检测设备技术领域，具体涉及一种芯片测试针清洁装置。

背景技术

芯片出厂前均需要进行成品测试，其通常是将芯片放置到治具上，通过测试针与芯片上的引脚或引线接触导通，从而测试芯片是否损坏，在测试过程中，当芯片的电流比较大时，测试针容易发生氧化以及粘有杂物，导致测试针与芯片接触不良而影响芯片的测试效果。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种芯片测试针清洁装置，能够有效清楚粘附在测试针侧表面的杂物以及抛光针头，保证测试针与芯片的引脚或引线接触良好。

为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案如下：一种芯片测试针清洁装置，包括：

基座，所述基座上设置有至少一个安装位；

清扫套筒，设置在所述安装位上，其内壁设置有环形毛刷；

打磨头，设置在所述清扫套筒的下端，所述打磨头上设置有凹弧形磨槽，所述打磨头连接有转动驱动源，所述转动驱动源用于驱使所述打磨头自转；

吹气组件，包括气嘴和气泵，所述气嘴和所述气泵通过管道连通，所述气嘴倾斜朝下并对准所述凹弧形磨槽的中心。

在一些实施例中，所述打磨头还连接有直线驱动源，所述直线驱动源可驱使所述打磨头靠近并与所述清扫套筒驱动连接，所述转动驱动源可通过所述打磨头带动所述清扫套筒转动。

在一些实施例中，所述清扫套筒的下端设置有连接槽，所述打磨头的上端设置有与所述连接槽相配合的连接销。

在一些实施例中，所述连接槽有若干个，并且至少两个所述连接槽的槽深尺寸不一。

在一些实施例中，所述环形毛刷的内径自上而下逐渐缩小，并且所述环形毛刷的刷毛自上而下朝向中心轴线倾斜。

在一些实施例中，所述清扫套筒外套设有安装套筒，所述安装套筒固定安装在所述基座上。

在一些实施例中，还包括安装板，所述安装板上开设有可容所述安装套筒穿过的安装孔，所述安装板盖设在所述安装套筒上并与所述基座固定连接。

在一些实施例中，所述基座通过至少两个卡钳固定安装在治具的一侧。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：本实用新型的清洁装置在基座上设置清扫套筒和打磨头，其中清扫套筒内设置环形毛刷用以清扫测试针侧表面的杂物，打磨头连接有转动驱动源且其上设置有凹弧形磨槽，通过转动驱动源驱使打磨头转动进而能够打磨测试针的针头部分，以将针头处的氧化物或氧化面磨去，保证针头与引脚或引线接触良好。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型实施例的清洁装置的装配示意图；

图2是本实用新型实施例的清洁装置的结构示意图；

图3是本实用新型实施例的清扫套筒和打磨头部分的的半剖结构示意图；