[实用新型]一种IC芯片测试分选机构

权利要求书

1.一种IC芯片测试分选机构，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部固定连接于顶起机构(2)，所述顶起机构(2)的顶部固定连接有支撑座(3)，所述支撑座(3)的顶部转动连接有测试分选机主体(4)，所述测试分选机主体(4)的底部设置有驱动机构(5)，所述驱动机构(5)的底部与顶起机构(2)固定连接，所述底板(1)底部的四角分别转动连接有万向轮(6)，所述底板(1)的底部安装有定位机构(7)，所述底板(1)的顶部固定连接有工具柜(8)。

2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述顶起机构(2)包括两个液压缸(21)、支撑架(22)和两个限位套(23)，两个所述限位套(23)相对的一侧分别固定连接至工具柜(8)的左右两侧，所述支撑架(22)的底部两端分别贯穿并滑动连接至两个限位套(23)的内部，两个所述液压缸(21)的底部与底板(1)固定连接，两个所述液压缸(21)的顶端分别支撑架(22)的两个底端固定连接，所述支撑架(22)的顶部与支撑座(3)的底部。

3.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述驱动机构(5)包括伺服电机(51)、齿轮(52)和齿环(53)，所述伺服电机(51)的输出端通过联轴器与齿轮(52)固定连接，所述伺服电机(51)的底部与支撑座(3)固定连接，所述齿环(53)的内部固定连接至支撑座(3)的外层，所述齿轮(52)的外侧与齿环(53)的底部相啮合。

4.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述定位机构(7)包括螺纹柱(71)、螺纹套(72)和接地盘(73)，所述；螺纹柱(71)的顶端与底板(1)固定连接，所述螺纹柱(71)的底端贯穿并螺纹连接至螺纹套(72)的内部，所述螺纹套(72)的底部与接地盘(73)转动连接。

5.根据权利要求4所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述螺纹套(72)的外侧固定连接有把手环(721)。

6.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试分选机构，其特征在于：所述支撑架(22)的底部固定连接有两个橡胶垫块(221)，所述工具柜(8)的顶部开设有两个契合槽(81)，所述契合槽(81)与橡胶垫块(221)相配合。