[实用新型]一种IC芯片测试分选机构

说明书

本实用新型涉及芯片生产测试技术领域，涉及一种IC芯片测试分选机构。要点包括底板，所述底板的顶部固定连接于顶起机构，所述顶起机构的顶部固定连接有支撑座，所述支撑座的顶部转动连接有测试分选机主体，所述测试分选机主体的底部设置有驱动机构，所述驱动机构的底部与顶起机构固定连接。该实用新型通过底板对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体的高度时，只需要启动顶起机构带动支撑座和测试分选机主体垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构可带动测试分选机主体水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体的方位，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点。

技术领域

本实用新型涉及芯片生产测试技术领域，更具体地说，涉及一种IC芯片测试分选机构。

背景技术

IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试和分类，芯片分类存放有利于芯片的合理使用，最初，人们对芯片测试后，是靠人工分类放置的，不仅效率低，还容易发生错误，目前已有自动测试分选机替代人工。

但是现有的测试分选机一般都是固定安装在生产车间内，无法移动，不便有迁移设备，并且无法进行高度调节，以适用不同生产线的高度，局限性较大，因此我们提出一种IC芯片测试分选机构。

实用新型内容

针对上述背景技术中存在的相关问题，本实用新型的目的在于提供一种IC芯片测试分选机构。

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种IC芯片测试分选机构，包括底板，所述底板的顶部固定连接于顶起机构，所述顶起机构的顶部固定连接有支撑座，所述支撑座的顶部转动连接有测试分选机主体，所述测试分选机主体的底部设置有驱动机构，所述驱动机构的底部与顶起机构固定连接，所述底板底部的四角分别转动连接有万向轮，所述底板的底部安装有定位机构，所述底板的顶部固定连接有工具柜。

作为上述技术方案的进一步描述：所述顶起机构包括两个液压缸、支撑架和两个限位套，两个所述限位套相对的一侧分别固定连接至工具柜的左右两侧，所述支撑架的底部两端分别贯穿并滑动连接至两个限位套的内部，两个所述液压缸的底部与底板固定连接，两个所述液压缸的顶端分别支撑架的两个底端固定连接，所述支撑架的顶部与支撑座的底部。

作为上述技术方案的进一步描述：所述驱动机构包括伺服电机、齿轮和齿环，所述伺服电机的输出端通过联轴器与齿轮固定连接，所述伺服电机的底部与支撑座固定连接，所述齿环的内部固定连接至支撑座的外层，所述齿轮的外侧与齿环的底部相啮合。

作为上述技术方案的进一步描述：所述定位机构包括螺纹柱、螺纹套和接地盘，所述；螺纹柱的顶端与底板固定连接，所述螺纹柱的底端贯穿并螺纹连接至螺纹套的内部，所述螺纹套的底部与接地盘转动连接。

作为上述技术方案的进一步描述：所述螺纹套的外侧固定连接有把手环。

作为上述技术方案的进一步描述：所述支撑架的底部固定连接有两个橡胶垫块，所述工具柜的顶部开设有两个契合槽，所述契合槽与橡胶垫块相配合。

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

本方案通过底板对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体的高度时，只需要启动顶起机构带动支撑座和测试分选机主体垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构可带动测试分选机主体水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体的方位，然后通过万向轮可以方便移动整个装置，当装置移动到指定位置时，此时转动定位机构使其与地面紧密接触，实现对整个设备的稳定定位，使得装置使用平稳性更好，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点。

附图说明

图1为本实用新型的正视剖面结构示意图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为本实用新型的结构示意图。