[实用新型]一种光学元器件厚度的测量装置有效
申请号: | 202220722330.1 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN217005622U | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 陈涛 | 申请(专利权)人: | 重庆宇豪光学有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 重庆越利知识产权代理事务所(普通合伙) 50258 | 代理人: | 沈立 |
地址: | 404300 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 元器件 厚度 测量 装置 | ||
1.一种光学元器件厚度的测量装置,包括测量箱(1)、测量机构和夹紧机构,其特征在于:所述测量箱(1)的两侧内壁上固定连接有有隔板(2),隔板(2)的顶部固定连接有放置板(3);
所述测量机构位于测量箱(1)的内部,测量机构包括转动杆(8)和齿轮(9),测量箱(1)的两侧内壁转动安装有转动杆(8),转动杆(8)的外壁上固定套设有齿轮(9);
所述夹紧机构位于测量机构的下方,夹紧机构包括电动推杆(4)、连杆(5)和铰接壁(6),测量箱(1)的内侧底部固定连接有电动推杆(4),电动推杆(4)的自由端固定连接有矩形块,矩形块的两侧均各固定连接有连杆(5),连杆(5)的一端铰接安装有铰接壁(6)。
2.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于:所述夹紧机构还包括圆垫(7),铰接壁(6)的一端固定连接有圆垫(7),隔板(2)上开设有可供铰接壁(6)穿过的开口。
3.根据权利要求2所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于:所述测量机构还包括齿板(10)和刻度尺(15),齿轮(9)上设置有齿板(10),齿板(10)的前侧固定连接有刻度尺(15),刻度尺(15)和齿板(10)的顶端固定连接有防脱块,测量箱(1)的顶部开设有可供齿板(10)和刻度尺(15)穿过的开孔。
4.根据权利要求3所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于:所述测量箱(1)的两侧内壁均各固定连接有固定块(11),两组固定块(11)上均各滑动安装有滑板(12),两组滑板(12)的一端分别与齿板(10)的两侧固定连接,齿板(10)与齿轮(9)相啮合。
5.根据权利要求4所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于:所述滑板(12)的顶部固定连接有气囊(13),气囊(13)的一端与测量箱(1)的内侧顶部固定连接,测量箱(1)的顶部固定连接有两组出气管(14),出气管(14)一端延伸至测量箱(1)的内侧顶部与气囊(13)固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于:所述测量箱(1)的前侧铰接安装有门,门上开设有矩形口,矩形口内镶嵌安装有玻璃。
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