[实用新型]一种光学元器件厚度的测量装置有效
申请号: | 202220722330.1 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN217005622U | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 陈涛 | 申请(专利权)人: | 重庆宇豪光学有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 重庆越利知识产权代理事务所(普通合伙) 50258 | 代理人: | 沈立 |
地址: | 404300 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 元器件 厚度 测量 装置 | ||
本实用新型公开了一种光学元器件厚度的测量装置,涉及光学元器件厚度测量技术领域。该光学元器件厚度的测量装置,包括测量箱、测量机构和夹紧机构,测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板,隔板的顶部固定连接有放置板,测量机构位于测量箱的内部,测量机构包括转动杆和齿轮,测量箱的两侧内壁转动安装有转动杆,转动杆的外壁上固定套设有齿轮,夹紧机构包括电动推杆、连杆和铰接壁,测量箱的内侧底部固定连接有电动推杆,电动推杆的自由端固定连接有矩形块,矩形块的两侧均各固定连接有连杆,连杆的一端铰接安装有铰接壁。本实用能够对光学元器件进行更好的夹紧,还能够对光学元器件进行精准的测量。
技术领域
本实用新型涉及光学元器件厚度测量技术领域,特别涉及一种光学元器件厚度的测量装置。
背景技术
对于光学元器件的测量方式分为多种,物理测量就是其中一种方法,现有部分的光学元器件厚度的测量装置不能够对光学元器件进行更好的夹紧,容易对测量结果造成影响,部分的光学元器件厚度的测量装置不能够对光学元器件进行精准的测量,容易出现偏差,因此,针对以上问题,现提出一种光学元器件厚度的测量装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种光学元器件厚度的测量装置,能够解决不能够对光学元器件进行更好的夹紧和不能够对光学元器件进行精准的测量的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种光学元器件厚度的测量装置,包括测量箱、测量机构和夹紧机构,所述测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板,隔板的顶部固定连接有放置板,工作人员打开门,将光学元器件放置在放置板上;
所述测量机构位于测量箱的内部,测量机构包括转动杆和齿轮,测量箱的两侧内壁转动安装有转动杆,转动杆的外壁上固定套设有齿轮;
所述夹紧机构位于测量机构的下方,夹紧机构包括电动推杆、连杆和铰接壁,测量箱的内侧底部固定连接有电动推杆,电动推杆的自由端固定连接有矩形块,矩形块的两侧均各固定连接有连杆,连杆的一端铰接安装有铰接壁。
优选的,所述夹紧机构还包括圆垫,铰接壁的一端固定连接有圆垫,隔板上开设有可供铰接壁穿过的开口,控制电动推杆启动,电动推杆带动连杆进行向下运动,连杆带动铰接壁进行下移动,铰接壁带动圆垫对放置板上的光学元器件向下夹紧。
优选的,所述测量机构还包括齿板和刻度尺,齿轮上设置有齿板,齿板的前侧固定连接有刻度尺,刻度尺和齿板的顶端固定连接有防脱块,测量箱的顶部开设有可供齿板和刻度尺穿过的开孔,手动转动把手,把手带动转动杆转动,转动杆带动齿轮转动,齿轮带动齿板进行上下移动,齿板带动刻度尺进行向下移动,直至刻度尺的底部与光学元器件的表面相贴合,随后观察刻度尺上的数字进行标记。
优选的,所述测量箱的两侧内壁均各固定连接有固定块,两组固定块上均各滑动安装有滑板,两组滑板的一端分别与齿板的两侧固定连接,齿板与齿轮相啮合。
优选的,所述滑板的顶部固定连接有气囊,气囊的一端与测量箱的内侧顶部固定连接,测量箱的顶部固定连接有两组出气管,出气管一端延伸至测量箱的内侧顶部与气囊固定连接,齿板进行上下运动的同时带动滑板在固定块上滑动,滑板带动气囊进行上下移动,对齿板的下压力具有一定的缓冲作用。
优选的,所述测量箱的前侧铰接安装有门,门上开设有矩形口,矩形口内镶嵌安装有玻璃,便于进行观察。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
(1)、该光学元器件厚度的测量装置,通过电动推杆、连杆、铰接壁和圆垫的配合使用,能够对光学元器件进行更好的夹紧,便于对光学元器件进行测量,避免对光学元器件的夹紧效果较差导致光学元器件的滑动,影响了测量的效果,出现测量不精准的情况,还需要重新对其进行测量,浪费了较多的时间。
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