[实用新型]半导体加工模具的检测装置有效
申请号: | 202221117072.0 | 申请日: | 2022-05-11 |
公开(公告)号: | CN217900818U | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 张明 | 申请(专利权)人: | 乐山博思半导体有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;B25B11/00 |
代理公司: | 成都欣圣知识产权代理有限公司 51292 | 代理人: | 王淇 |
地址: | 614099 四*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 加工 模具 检测 装置 | ||
1.半导体加工模具的检测装置,包括支撑底座(1),其特征在于:所述支撑底座(1)的外部固定连接在承载台(2),承载台(2)远离支撑底座(1)的一侧安装有夹持机构一(3),支撑底座(1)的外部安装有夹持机构二(4),夹持机构二(4)的外部安装有夹持机构三(5)。
2.根据权利要求1所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构一(3)包括固定板(31)、滑块(32)、活动板(33)、推杆(34),固定板(31)固定连接在承载台(2)远离支撑底座(1)的一侧,滑块(32)滑动连接在承载台(2)的侧面,活动板(33)固定连接在滑块(32)的外部,推杆(34)固定连接在活动板(33)远离固定板(31)的一侧。
3.根据权利要求2所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述滑块(32)设置有两个且对称分布在承载台(2)的侧面,活动板(33)的两侧均固定连接有滑块(32)。
4.根据权利要求3所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构一(3)还包括限制卡环(35)和螺钉(36),限制卡环(35)的表面开设有两个对称分布的螺孔,螺钉(36)有两个,两个螺钉(36)分别穿过两个螺孔并螺纹连接在承载台(2)的台壁内侧。
5.根据权利要求4所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构二(4)包括滑道(41)、滑条(42)、活动框(43)、齿条(44)、固定底座(45)、电动伸缩杆一(46),滑道(41)有两个且对称开设在支撑底座(1)的表面,滑条(42)滑动连接在滑道(41)的内侧,活动框(43)固定连接在滑条(42)远离支撑底座(1)的一侧,齿条(44)固定连接在活动框(43)的外部,固定底座(45)固定连接在支撑底座(1)的表面,电动伸缩杆一(46)固定安装在固定底座(45)远离支撑底座(1)的一侧。
6.根据权利要求5所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述固定底座(45)和电动伸缩杆一(46)均有两个且在支撑底座(1)的表面对称分布,活动框(43)有两个且对称分布在滑道(41)的外部,两个电动伸缩杆一(46)对称固定安装在其中一个活动框(43)的外部。
7.根据权利要求6所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构二(4)还包括转轴(47)、齿轮(48),转轴(47)的一端转动连接在支撑底座(1)的外部,转轴(47)的另一端转动连接在承载台(2)靠近支撑底座(1)的一侧,齿轮(48)固定连接在转轴(47)的外部,齿条(44)有两个且两个齿条(44)均与齿轮(48)的外部啮合。
8.根据权利要求7所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构三(5)包括电动伸缩杆二(51)和下压板(52),电动伸缩杆二(51)固定安装在活动框(43)远离电动伸缩杆一(46)的内侧壁,下压板(52)固定安装在电动伸缩杆二(51)靠近电动伸缩杆一(46)的一侧,下压板(52)滑动连接在活动框(43)的内侧。
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