[实用新型]半导体加工模具的检测装置有效

专利信息
申请号: 202221117072.0 申请日: 2022-05-11
公开(公告)号: CN217900818U 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 张明 申请(专利权)人: 乐山博思半导体有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;B25B11/00
代理公司: 成都欣圣知识产权代理有限公司 51292 代理人: 王淇
地址: 614099 四*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 加工 模具 检测 装置
【权利要求书】:

1.半导体加工模具的检测装置,包括支撑底座(1),其特征在于:所述支撑底座(1)的外部固定连接在承载台(2),承载台(2)远离支撑底座(1)的一侧安装有夹持机构一(3),支撑底座(1)的外部安装有夹持机构二(4),夹持机构二(4)的外部安装有夹持机构三(5)。

2.根据权利要求1所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构一(3)包括固定板(31)、滑块(32)、活动板(33)、推杆(34),固定板(31)固定连接在承载台(2)远离支撑底座(1)的一侧,滑块(32)滑动连接在承载台(2)的侧面,活动板(33)固定连接在滑块(32)的外部,推杆(34)固定连接在活动板(33)远离固定板(31)的一侧。

3.根据权利要求2所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述滑块(32)设置有两个且对称分布在承载台(2)的侧面,活动板(33)的两侧均固定连接有滑块(32)。

4.根据权利要求3所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构一(3)还包括限制卡环(35)和螺钉(36),限制卡环(35)的表面开设有两个对称分布的螺孔,螺钉(36)有两个,两个螺钉(36)分别穿过两个螺孔并螺纹连接在承载台(2)的台壁内侧。

5.根据权利要求4所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构二(4)包括滑道(41)、滑条(42)、活动框(43)、齿条(44)、固定底座(45)、电动伸缩杆一(46),滑道(41)有两个且对称开设在支撑底座(1)的表面,滑条(42)滑动连接在滑道(41)的内侧,活动框(43)固定连接在滑条(42)远离支撑底座(1)的一侧,齿条(44)固定连接在活动框(43)的外部,固定底座(45)固定连接在支撑底座(1)的表面,电动伸缩杆一(46)固定安装在固定底座(45)远离支撑底座(1)的一侧。

6.根据权利要求5所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述固定底座(45)和电动伸缩杆一(46)均有两个且在支撑底座(1)的表面对称分布,活动框(43)有两个且对称分布在滑道(41)的外部,两个电动伸缩杆一(46)对称固定安装在其中一个活动框(43)的外部。

7.根据权利要求6所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构二(4)还包括转轴(47)、齿轮(48),转轴(47)的一端转动连接在支撑底座(1)的外部,转轴(47)的另一端转动连接在承载台(2)靠近支撑底座(1)的一侧,齿轮(48)固定连接在转轴(47)的外部,齿条(44)有两个且两个齿条(44)均与齿轮(48)的外部啮合。

8.根据权利要求7所述的半导体加工模具的检测装置,其特征在于:所述夹持机构三(5)包括电动伸缩杆二(51)和下压板(52),电动伸缩杆二(51)固定安装在活动框(43)远离电动伸缩杆一(46)的内侧壁,下压板(52)固定安装在电动伸缩杆二(51)靠近电动伸缩杆一(46)的一侧,下压板(52)滑动连接在活动框(43)的内侧。

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