[实用新型]一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架有效
申请号: | 202221127748.4 | 申请日: | 2022-05-12 |
公开(公告)号: | CN217158156U | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 金相一 | 申请(专利权)人: | 成都高真科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;B08B3/10;B08B13/00 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 张杰 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 cmp 阶段 边缘 清洁 支架 | ||
本实用新型公开了一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,涉及晶圆清洗的技术领域,具体包括晶圆支架本体和用于液体流出的液体孔,所述晶圆支架本体上设置有用于夹持晶圆的夹持部;所述液体孔开设在晶圆支架本体上,液体由晶圆支架本体内部经液体孔流出至晶圆边缘;本实用新型,在使用时,晶圆支架本体会进行旋转,从而带动晶圆旋转,在旋转过程中,液体不断的从液体孔流出,并分散至晶圆边缘上,在后续晶圆的旋转中,边缘颗粒在液体的离心力的作用下被清理掉,实现晶圆边缘的清理,从而避免了晶圆污染,使得经CMP阶段后的晶圆良品率大大提高。
技术领域
本实用新型涉及晶圆清洗的技术领域,具体涉及一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架。
背景技术
随着设备的尺寸变得越来越小,小尺寸的缺点影响到效益的情况变得越来越多;在半导体的制备工艺中,为了去除颗粒,在CMP(化学机械抛光)工艺中会使用到刷子,通过物理性对晶圆表面进行摩擦来去除颗粒;但由于目前采用的晶圆支架与晶圆边缘接触的区域为清理盲区,导致颗粒去除之后,部分颗粒或污染物会残留在晶圆边缘上,且无法清除。
实用新型内容
本实用新型的目的在于:针对目前采用的晶圆支架与晶圆边缘接触的区域为清理盲区,导致颗粒去除之后,部分颗粒或污染物会残留在晶圆边缘上,且无法清除的问题,提供了一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,解决了上述问题。
本实用新型的技术方案如下:
一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,具体包括如下结构:
晶圆支架本体,所述晶圆支架本体上设置有用于夹持晶圆的夹持部;优选地,在使用时,需要多个晶圆支架本体配合才能完成晶圆的夹持,具体的,所述多个晶圆支架本体分布在晶圆周围,随着各个晶圆支架本体的收拢,使各个夹持部将晶圆边缘进行夹持,即完成了晶圆的固定;
用于液体流出的液体孔,所述液体孔开设在晶圆支架本体上,液体由晶圆支架本体内部经液体孔流出至晶圆边缘;优选地,所述液体孔为多个,均匀分布在晶圆支架本体上;在使用时,晶圆支架本体会进行旋转,从而带动晶圆旋转,在旋转过程中,液体不断的从液体孔流出,并分散至晶圆边缘上,在后续晶圆的旋转中,边缘颗粒在液体的离心力的作用下被清理掉,实现晶圆边缘的清理。
进一步地,所述晶圆支架本体呈圆柱体状,所述夹持部为开设在晶圆支架本体周向方向上的V形槽,所述V形槽用于夹持晶圆边缘;即所述V形槽绕着晶圆支架本体的圆周设置了一圈,通过多个晶圆支架本体的收拢,从而使V形槽夹持住晶圆边缘。
进一步地,所述V形槽包括开口端和尖端,所述尖端用于与晶圆接触;优选地,所述开口端处设置有水平段,用于临时放置晶圆,在使用时,可调整好各个晶圆支架本体的位置,使晶圆边缘刚好放置在水平段处,然后随着各个晶圆支架本体的收拢,晶圆边缘在挤压下,逐渐向上移动,最终移动至尖端,尖端与晶圆边缘紧密接触,实现晶圆的固定。
进一步地,所述液体孔设置在V形槽的尖端处,且与所述尖端保持在同一水平线上,从而保证由液体孔流出的液体能够分散至晶圆边缘上。
进一步地,所述晶圆支架本体内部在周向方向上开设置有液体通道,所述液体孔向晶圆支架本体径向方向延伸,并与液体通道连通;液体由液体通道进入晶圆支架本体内,再由液体孔流出。
进一步地,还包括晶圆支架旋转部,所述晶圆支架旋转部与晶圆支架本体连接,用于驱动晶圆支架本体旋转;优选地,所述晶圆支架旋转部只要实现驱动晶圆支架本体旋转即可,多其具体的工作原理和结构这里不做详细的解释,本领域的技术人员能够在不经过创造性劳动的前提实现,因此这里不再赘述;优选地,所述晶圆支架旋转部设置在晶圆支架本体下方,且与晶圆支架本体固定连接,其连接方式不限。
进一步地,所述晶圆支架旋转部内部开设有供液体管线穿过的管线孔,所述液体管线穿过管线孔与液体通道连接;所述液体管线用于液体输送。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造