[实用新型]一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架有效

专利信息
申请号: 202221127748.4 申请日: 2022-05-12
公开(公告)号: CN217158156U 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 金相一 申请(专利权)人: 成都高真科技有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;B08B3/10;B08B13/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 张杰
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 cmp 阶段 边缘 清洁 支架
【说明书】:

实用新型公开了一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,涉及晶圆清洗的技术领域,具体包括晶圆支架本体和用于液体流出的液体孔,所述晶圆支架本体上设置有用于夹持晶圆的夹持部;所述液体孔开设在晶圆支架本体上,液体由晶圆支架本体内部经液体孔流出至晶圆边缘;本实用新型,在使用时,晶圆支架本体会进行旋转,从而带动晶圆旋转,在旋转过程中,液体不断的从液体孔流出,并分散至晶圆边缘上,在后续晶圆的旋转中,边缘颗粒在液体的离心力的作用下被清理掉,实现晶圆边缘的清理,从而避免了晶圆污染,使得经CMP阶段后的晶圆良品率大大提高。

技术领域

本实用新型涉及晶圆清洗的技术领域,具体涉及一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架。

背景技术

随着设备的尺寸变得越来越小,小尺寸的缺点影响到效益的情况变得越来越多;在半导体的制备工艺中,为了去除颗粒,在CMP(化学机械抛光)工艺中会使用到刷子,通过物理性对晶圆表面进行摩擦来去除颗粒;但由于目前采用的晶圆支架与晶圆边缘接触的区域为清理盲区,导致颗粒去除之后,部分颗粒或污染物会残留在晶圆边缘上,且无法清除。

实用新型内容

本实用新型的目的在于:针对目前采用的晶圆支架与晶圆边缘接触的区域为清理盲区,导致颗粒去除之后,部分颗粒或污染物会残留在晶圆边缘上,且无法清除的问题,提供了一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,解决了上述问题。

本实用新型的技术方案如下:

一种用于CMP阶段晶圆边缘清洁的晶圆支架,具体包括如下结构:

晶圆支架本体,所述晶圆支架本体上设置有用于夹持晶圆的夹持部;优选地,在使用时,需要多个晶圆支架本体配合才能完成晶圆的夹持,具体的,所述多个晶圆支架本体分布在晶圆周围,随着各个晶圆支架本体的收拢,使各个夹持部将晶圆边缘进行夹持,即完成了晶圆的固定;

用于液体流出的液体孔,所述液体孔开设在晶圆支架本体上,液体由晶圆支架本体内部经液体孔流出至晶圆边缘;优选地,所述液体孔为多个,均匀分布在晶圆支架本体上;在使用时,晶圆支架本体会进行旋转,从而带动晶圆旋转,在旋转过程中,液体不断的从液体孔流出,并分散至晶圆边缘上,在后续晶圆的旋转中,边缘颗粒在液体的离心力的作用下被清理掉,实现晶圆边缘的清理。

进一步地,所述晶圆支架本体呈圆柱体状,所述夹持部为开设在晶圆支架本体周向方向上的V形槽,所述V形槽用于夹持晶圆边缘;即所述V形槽绕着晶圆支架本体的圆周设置了一圈,通过多个晶圆支架本体的收拢,从而使V形槽夹持住晶圆边缘。

进一步地,所述V形槽包括开口端和尖端,所述尖端用于与晶圆接触;优选地,所述开口端处设置有水平段,用于临时放置晶圆,在使用时,可调整好各个晶圆支架本体的位置,使晶圆边缘刚好放置在水平段处,然后随着各个晶圆支架本体的收拢,晶圆边缘在挤压下,逐渐向上移动,最终移动至尖端,尖端与晶圆边缘紧密接触,实现晶圆的固定。

进一步地,所述液体孔设置在V形槽的尖端处,且与所述尖端保持在同一水平线上,从而保证由液体孔流出的液体能够分散至晶圆边缘上。

进一步地,所述晶圆支架本体内部在周向方向上开设置有液体通道,所述液体孔向晶圆支架本体径向方向延伸,并与液体通道连通;液体由液体通道进入晶圆支架本体内,再由液体孔流出。

进一步地,还包括晶圆支架旋转部,所述晶圆支架旋转部与晶圆支架本体连接,用于驱动晶圆支架本体旋转;优选地,所述晶圆支架旋转部只要实现驱动晶圆支架本体旋转即可,多其具体的工作原理和结构这里不做详细的解释,本领域的技术人员能够在不经过创造性劳动的前提实现,因此这里不再赘述;优选地,所述晶圆支架旋转部设置在晶圆支架本体下方,且与晶圆支架本体固定连接,其连接方式不限。

进一步地,所述晶圆支架旋转部内部开设有供液体管线穿过的管线孔,所述液体管线穿过管线孔与液体通道连接;所述液体管线用于液体输送。

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