[实用新型]一种背景抑制传感器测试工装有效

专利信息
申请号: 202221611455.3 申请日: 2022-06-24
公开(公告)号: CN217845236U 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 于学军 申请(专利权)人: 天津神悦电子科技有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01D11/00;G01D11/30;G01B21/02
代理公司: 天津垠坤知识产权代理有限公司 12248 代理人: 江洁
地址: 300000 天津市东丽区津滨大道*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 背景 抑制 传感器 测试 工装
【权利要求书】:

1.一种背景抑制传感器测试工装,其特征在于:包括固定架(1)、行程检测滑动结构、产品固定座(6)、支撑平台(7)、旋转平台及黑白测试板(3),其中,

所述支撑平台(7)两端与所述固定架(1)固定连接,所述行程检测滑动结构固定连接所述固定架(1)及所述旋转平台,所述旋转平台可拆卸连接有所述黑白测试板(3),所述产品固定座(6)与所述固定架(1)固定连接且所述产品固定座(6)与所述黑白测试板(3)相对。

2.根据权利要求1所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述旋转平台包含旋转平台连接底座(8)及测试板固定旋转平台(9),所述旋转平台连接底座(8)与所述行程检测滑动结构固定连接,所述测试板固定旋转平台(9)包含连接螺栓、壳体及弹簧(11),所述壳体开设有连接空腔与所述连接螺栓的头部转动连接,所述连接螺栓外部套设有所述弹簧(11),所述连接螺栓的螺杆突出于所述壳体与所述旋转平台连接底座(8)螺纹连接,所述旋转平台连接底座(8)及测试板固定旋转平台(9)的相对面上分别设置有钢珠(12)及滑动槽(13),所述滑动槽(13)中间隔设置有锁定孔(14)。

3.根据权利要求2所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述滑动槽(13)为圆环型,所述锁定孔(14)及所述钢珠(12)沿所述滑动槽(13)等间隔排列。

4.根据权利要求1所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述产品固定座(6)包含安装部与卡装部,所述安装部与所述卡装部一体成型,所述安装部与所述固定架(1)螺纹连接,所述卡装部卡接传感器。

5.根据权利要求4所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述安装部与所述卡装部连接处弯折。

6.根据权利要求1所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述行程检测滑动结构包含行程检测滑轨座(4)及直线滑轨(5),所述直线滑轨(5)两端与所述固定架(1)固定连接,所述行程检测滑轨座(4)与所述直线滑轨(5)滑动连接。

7.根据权利要求1所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述产品固定座(6)包含有插槽,所述黑白测试板(3)通过所述插槽与所述产品固定座(6)连接。

8.根据权利要求1所述的背景抑制传感器测试工装,其特征在于:所述背景抑制传感器测试工装还包含显示控制面板(2)。

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