[实用新型]一种背景抑制传感器测试工装有效
申请号: | 202221611455.3 | 申请日: | 2022-06-24 |
公开(公告)号: | CN217845236U | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 于学军 | 申请(专利权)人: | 天津神悦电子科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01D11/00;G01D11/30;G01B21/02 |
代理公司: | 天津垠坤知识产权代理有限公司 12248 | 代理人: | 江洁 |
地址: | 300000 天津市东丽区津滨大道*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 背景 抑制 传感器 测试 工装 | ||
本实用新型提供了一种背景抑制传感器测试工装,涉及传感器测试设备技术领域,以解决现有技术中存在的传感器性能参数测试结果准确性较差的技术问题,该装置包括固定架、行程检测滑动结构、产品固定座、支撑平台、旋转平台及黑白测试板,支撑平台两端与固定架固定连接,行程检测滑动结构固定连接固定架及旋转平台,旋转平台可拆卸连接有黑白测试板,产品固定座与固定架固定连接且产品固定座与黑白测试板相对,本实用新型用于提高测试结果的准确性。
技术领域
本实用新型涉及传感器测试设备技术领域,尤其是涉及一种背景抑制传感器测试工装。
背景技术
传感器是一种能够感受到被测量信息,并将被测量信息按照一定规律变换成电信号或其他所需形式的信息后输出,以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求,因此传感器的性能尤为重要,在实际应用中,通常需要对传感器的性能参数进行测试。
在测试传感器性能参数时,检测用的黑白测试板无法保障可以自由旋转,同时还能保证测试板所在平面和产品所在平面是两个平行面,造成测试结果准确性较差,同时需要人工采集数据,采集效率低,计算速度慢,不能够满足生产需要。
本申请人发现现有技术至少存在以下技术问题:
传感器性能参数测试时,准确性差,人工采集数据效率低,不能够满足生产需要。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种背景抑制传感器测试工装,以解决现有技术中存在的传感器性能参数测试结果准确性较差的技术问题。本实用新型提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
为实现上述目的,本实用新型提供了以下技术方案:
本实用新型提供的一种背景抑制传感器测试工装,包括固定架、行程检测滑动结构、产品固定座、支撑平台、旋转平台及黑白测试板,其中,
所述支撑平台两端与所述固定架固定连接,所述行程检测滑动结构固定连接所述固定架及所述旋转平台,所述旋转平台可拆卸连接有所述黑白测试板,所述产品固定座与所述固定架固定连接且所述产品固定座与所述黑白测试板相对。
优选地,所述旋转平台包含旋转平台连接底座及测试板固定旋转平台,所述旋转平台连接底座与所述行程检测滑动结构固定连接,所述测试板固定旋转平台包含连接螺栓、壳体及弹簧,所述壳体开设有连接空腔与所述连接螺栓的头部转动连接,所述连接螺栓外部套设有所述弹簧,所述连接螺栓的螺杆突出于所述壳体与所述旋转平台连接底座螺纹连接,所述旋转平台连接底座及测试板固定旋转平台的相对面上分别设置有钢珠及滑动槽,所述滑动槽中间隔设置有锁定孔。
优选地,所述滑动槽为圆环型,所述锁定孔及所述钢珠沿所述滑动槽等间隔排列。
优选地,所述产品固定座包含安装部与卡装部,所述安装部与所述卡装部一体成型,所述安装部与所述固定架螺纹连接,所述卡装部卡接传感器。
优选地,所述安装部与所述卡装部连接处弯折。
优选地,所述行程检测滑动结构包含行程检测滑轨座及直线滑轨,所述直线滑轨两端与所述固定架固定连接,所述行程检测滑轨座与所述直线滑轨滑动连接。
优选地,所述产品固定座包含有插槽,所述黑白测试板通过所述插槽与所述产品固定座连接。
优选地,所述背景抑制传感器测试工装还包含显示控制面板。
本实用新型提供的一种背景抑制传感器测试工装,通过行程检测滑动结构固定连接固定架及旋转平台,旋转平台可拆卸连接有黑白测试板,产品固定座与固定架固定连接且产品固定座与黑白测试板相对,保证黑白测试板可以自由旋转,同时还保证测试板平面和产品平面是两个平行面,提高了测试结果的准确性。
附图说明
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