[实用新型]一种简易胶质层位移测量尺装置有效

专利信息
申请号: 202221745797.4 申请日: 2022-07-06
公开(公告)号: CN217504592U 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 郝立魁;冯建 申请(专利权)人: 山东兖矿国际焦化有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 济南舜科知识产权代理事务所(普通合伙) 37274 代理人: 徐娟
地址: 272100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 简易 胶质 位移 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种简易胶质层位移测量尺装置,其特征在于,包括底板、指针、支架、刻度尺,所述底板安装于支架上,底板上设有转轴,指针安装于转轴上且指针能够绕转轴旋转,转轴的一侧设有拉线,拉线上设有拉环,转轴的另一侧设有刻度尺,指针的一端穿过拉环与拉线连接,指针的另一端指向刻度尺,刻度尺外缘至转轴的距离与转轴至拉线的距离比例为10:1。

2.如权利要求1所述的简易胶质层位移测量尺装置,其特征在于,所述底板为长方形,拉线与刻度尺分别设置于长方形底板的两端,且拉线和刻度尺的外缘平行。

3.如权利要求1或2所述的简易胶质层位移测量尺装置,其特征在于,所述刻度尺的外缘为刻度尺远离转轴的一侧边缘。

4.如权利要求1所述的简易胶质层位移测量尺装置,其特征在于,所述底板在支架上能够上下调节位置。

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