[实用新型]一种简易胶质层位移测量尺装置有效

专利信息
申请号: 202221745797.4 申请日: 2022-07-06
公开(公告)号: CN217504592U 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 郝立魁;冯建 申请(专利权)人: 山东兖矿国际焦化有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 济南舜科知识产权代理事务所(普通合伙) 37274 代理人: 徐娟
地址: 272100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 简易 胶质 位移 测量 装置
【说明书】:

本实用新型属于胶质层指数测定工具技术领域,具体涉及一种简易胶质层位移测量尺装置,包括底板、指针、支架、刻度尺,所述底板安装于支架上,底板上设有转轴,指针安装于转轴上且指针能够绕转轴旋转,转轴的一侧设有拉线,拉线上设有拉环,转轴的另一侧设有刻度尺,指针的一端穿过拉环与拉线连接,指针的另一端指向刻度尺,刻度尺外缘至转轴的距离与转轴至拉线的距离比例为10:1。通过拉线、拉环带动指针移动,位移变化量以扩大10倍的比例显示在刻度尺上。将位移变化量扩大,然后进行调整。可以快速调整位移,位移调整实现可量化,工人操作更简单,减少操作时间,提高工作效率。位移的变化量更加直观,更容易观察。

技术领域

本实用新型属于胶质层指数测定工具技术领域,具体涉及一种简易胶质层位移测量尺装置。

背景技术

烟煤胶质层指数测定时,需要调整位移传感器的位移,例如中唯炼焦技术公司所产GZY-PC-H型设备,拉线与位移传感器相连。存在的问题如下:调整位移时,边调整拉线,边观察电脑显示器内校正位移,需要进行多次调整;一般位移要求为50±0.5mm,量值小,不易控制。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种简单、快速、高效的简易胶质层位移测量尺装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种简易胶质层位移测量尺装置,包括底板、指针、支架、刻度尺,所述底板安装于支架上,底板上设有转轴,指针安装于转轴上且指针能够绕转轴旋转,转轴的一侧设有拉线,拉线上设有拉环,转轴的另一侧设有刻度尺,指针的一端穿过拉环与拉线连接,指针的另一端指向刻度尺,刻度尺外缘至转轴的距离与转轴至拉线的距离比例为10:1。

进一步地,所述底板为长方形,拉线与刻度尺分别设置于长方形底板的两端,且拉线和刻度尺的外缘平行。

进一步地,所述刻度尺的外缘为刻度尺远离转轴的一侧边缘。

进一步地,所述底板在支架上能够上下调节位置。

位移传感器与拉线相连,位移变化时,拉线上下移动。拉线通过拉环,带动指针移动。指针移动时,位移变化量以扩大10倍的比例显示在刻度尺上。

本实用新型具有以下有益效果:本实用新型通过拉线、拉环带动指针移动,位移变化量以扩大10倍的比例显示在刻度尺上。将位移变化量扩大,然后进行调整。可以快速调整位移,位移调整实现可量化,工人操作更简单,减少操作时间,提高工作效率。位移的变化量更加直观,更容易观察。

附图说明

图1是本实用新型位移测量尺装置的结构示意图。

图中,1、底板,2、拉环,3、拉线,4、指针,5、转轴,6、支架,7、刻度尺。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示,一种简易胶质层位移测量尺装置,包括底板1、指针4、支架6、刻度尺7,底板1为长方形,底板1安装于支架6上,底板1在支架6上能够上下调节位置,调节方式可采用现有技术,只要能实现底板1的上下调节固定即可。底板1上设有转轴5,指针4安装于转轴5上且指针4能够绕转轴5旋转,转轴5的一侧设有拉线3,拉线3上设有拉环2,转轴5的另一侧设有刻度尺7,拉线3与刻度尺7分别设置于长方形底板1的两端,且拉线3和刻度尺7的外缘平行。指针4的一端穿过拉环2与拉线3连接,指针4的另一端指向刻度尺7,刻度尺7外缘至转轴5的距离与转轴5至拉线3的距离比例为10:1。刻度尺7的外缘是指刻度尺7远离转轴5的一侧边缘。

使用时,调节底板在支架上的位置,使指针调整至0刻度线位置。再根据校验时位移数值与规定数值的差值,扩大10倍,根据刻度尺进行调整拉线,实现调整位移。例如:校验位移为49.0mm,标准位移为50.0mm。根据刻度尺数值调整10mm,即可实现位移调整1mm。

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