[实用新型]料盘扫码机构及芯片测试设备

权利要求书

1.一种料盘扫码机构，其特征在于，包括抓盘机械手(1)、扫码器(2)和支架(3)，所述支架(3)安装于所述抓盘机械手(1)上，所述扫码器(2)安装于所述支架(3)上且沿靠近或远离所述抓盘机械手(1)的方向可调，所述抓盘机械手(1)开设有与所述扫码器(2)上扫码头相对设置的扫码口。

2.根据权利要求1所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述支架(3)包括架体组件(31)和光源(32)，所述架体组件(31)安装于所述抓盘机械手(1)上，所述光源(32)和所述扫码器(2)间隔安装于所述架体组件(31)上。

3.根据权利要求2所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述架体组件(31)包括第一架体(311)和第二架体(312)，所述第一架体(311)安装于所述抓盘机械手(1)上，所述扫码器(2)与所述第一架体(311)连接，所述第二架体(312)安装于所述第一架体(311)的一侧，所述光源(32)与所述第二架体(312)连接。

4.根据权利要求3所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述架体组件(31)还包括调节件(313)，所述第一架体(311)的侧方具有第一连接部(3111)，所述第二架体(312)朝向所述第一连接部(3111)形成有第二连接部(3121)，所述第一连接部(3111)通过所述调节件(313)调整相对于所述第二连接部(3121)的角度。

5.根据权利要求3所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述第二架体(312)相对于所述第一架体(311)绕第一方向角度可调，所述第一方向垂直于所述扫码器(2)的扫码方向。

6.根据权利要求3所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述光源(32)的一端与所述第二架体(312)活动连接，以使所述光源(32)相对于所述扫码器(2)的位置可调。

7.根据权利要求1-6任一项所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述支架(3)上设有腰型孔(3112)，所述腰型孔(3112)的长度方向平行于靠近或远离所述扫码口的方向，所述扫码器(2)通过连接件(4)与所述腰型孔(3112)连接。

8.根据权利要求1-6任一项所述的料盘扫码机构，其特征在于，所述抓盘机械手(1)包括第一安装臂(11)以及沿所述第一安装臂(11)的长度方向续接于所述第一安装臂(11)上的第二安装臂(12)，所述第一安装臂(11)和/或所述第二安装臂(12)上设有所述扫码口，至少一个所述扫码口处设有所述支架(3)。

9.一种芯片测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的料盘扫码机构。

10.根据权利要求9所述的芯片测试设备，其特征在于，还包括用于运送料盘(6)的供收料机构(5)，所述供收料机构(5)位于所述料盘扫码机构的下方。