[实用新型]料盘扫码机构及芯片测试设备

说明书

本实用新型提供了一种料盘扫码机构及芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，本实用新型提供的料盘扫码机构包括抓盘机械手、扫码器和支架，支架安装于抓盘机械手上，扫码器安装于支架上且沿靠近或远离抓盘机械手的方向可调，抓盘机械手开设有与扫码器上扫码头相对设置的扫码口。本实用新型提供的料盘扫码机构利用抓盘机械手在抓取料盘前或抓取料盘后进行的一系列动作便可以同步实现扫码器对准料盘，节省测试时间，且扫码器的扫码视野可调，能够适应不同大小以及位置的二维码或条形码，保证扫码效果。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种料盘扫码机构及芯片测试设备。

背景技术

现有的芯片测试设备中的扫码机构通常是固装于扫码工位的机架上，需要取料机构将电子物料移动至扫码工位后，扫码机构对电子物料上的二维码或条形码进行读取，并将读取到的信息传输到工控机内，作为分料的依据。然而上述方式需要将电子物料逐个转运至扫码工位，转运过程消耗时间，降低测试效率，另外由于扫码机是固装于机架上，无法应对不同大小以及位置的二维码或条形码，容易造成读取失效。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种料盘扫码机构及芯片测试设备，可节省测试时间并适应不同大小以及位置的二维码或条形码。

为实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

本实用新型提供一种料盘扫码机构，包括抓盘机械手、扫码器和支架，所述支架安装于所述抓盘机械手上，所述扫码器安装于所述支架上且沿靠近或远离所述抓盘机械手的方向可调，所述抓盘机械手开设有与所述扫码器上扫码头相对设置的扫码口。

进一步地，所述支架包括架体组件和光源，所述架体组件安装于所述抓盘机械手上，所述光源和所述扫码器间隔安装于所述架体组件上。

进一步地，所述架体组件包括第一架体和第二架体，所述第一架体安装于所述抓盘机械手上，所述扫码器与所述第一架体连接，所述第二架体安装于所述第一架体的一侧，所述光源与所述第二架体连接。

进一步地，所述架体组件还包括调节件，所述第一架体的侧方具有第一连接部，所述第二架体朝向所述第一连接部形成有第二连接部，所述第一连接部通过所述调节件调整相对于所述第二连接部的角度。

进一步地，所述第二架体相对于所述第一架体绕第一方向角度可调，所述第一方向垂直于所述扫码器的扫码方向。

进一步地，所述光源的一端与所述第二架体活动连接，以使所述光源相对于所述扫码器的位置可调。

进一步地，所述支架上设有腰型孔，所述腰型孔的长度方向平行于靠近或远离所述扫码口的方向，所述扫码器通过连接件与所述腰型孔连接。

进一步地，所述抓盘机械手包括第一安装臂以及沿所述第一安装臂的长度方向续接于所述第一安装臂上的第二安装臂，所述第一安装臂和/或第二安装臂上设有所述扫码口，至少一个所述扫码口处设有所述支架。

第二方面，本实用新型还提供一种芯片测试设备，包括上述方案所述的料盘扫码机构。

进一步地，芯片测试设备还包括用于运送料盘的供收料机构，所述供收料机构位于所述料盘扫码机构的下方。

本实用新型提供的料盘扫码机构及芯片测试设备能产生如下有益效果：

在上述料盘扫码机构工作时，由于扫码器通过支架安装于抓盘机械手上，扫码器可跟随抓盘机械手一起对准料盘，扫码器可透过扫码口对料盘上的二维码或条形码进行扫取、识别。针对不同大小的二维码或条形码，检测人员可通过调整扫码器与支架之间的距离来调整扫码器的扫码视野，从而保证扫码效果。