[实用新型]半导体材料的化学机械减薄抛光装置有效
申请号: | 202221913102.9 | 申请日: | 2022-07-21 |
公开(公告)号: | CN218312810U | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 许耀华 | 申请(专利权)人: | 北京中科百测检测技术有限公司 |
主分类号: | B24B37/34 | 分类号: | B24B37/34;B24B37/20 |
代理公司: | 天津英扬昊睿专利代理事务所(普通合伙) 12227 | 代理人: | 吴扬 |
地址: | 100000 北京市顺*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体材料 化学 机械 抛光 装置 | ||
1.半导体材料的化学机械减薄抛光装置,包括抛光机本体和固定机构,固定机构安装在抛光机本体上;
其特征在于,固定机构包括两组支板(1)、两组顶板(2)、两组压杆(3)、两组限位环(4)和两组弹簧(5),抛光机本体包括抛光机构(7)、转动机构(8)和底座(6),抛光机构(7)和转动机构(8)均安装在底座(6)顶部,两组支板(1)分别固定安装在转动机构(8)左端和右端,两组顶板(2)分别固定安装在两组支板(1)内端,两组顶板(2)顶部分别设置有第一通孔,两组压杆(3)分别与两组第一通孔滑动连接,两组限位环(4)分别固定安装在两组压杆(3)底部,两组限位环(4)顶部与两组支板(1)底部分别通过两组弹簧(5)连接。
2.如权利要求1所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,还包括两组拉环(9),两组拉环(9)分别固定安装在两组压杆(3)顶部。
3.如权利要求2所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,两组拉环(9)上均包裹设置有防护圈(10)。
4.如权利要求3所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,还包括两组压板(11),两组压板(11)分别固定安装在两组压杆(3)底部。
5.如权利要求4所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,两组压板(11)底部均固定设置有摩擦垫(12)。
6.如权利要求5所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,还包括两组限位杆(13),两组限位杆(13)分别固定安装在两组压板(11)顶部,两组顶板(2)顶部分别贯穿设置有限位孔,两组限位杆(13)分别与两组限位块滑动连接。
7.如权利要求6所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,两组支板(1)内端分别设置有弧形结构。
8.如权利要求7所述的半导体材料的化学机械减薄抛光装置,其特征在于,底座(6)底部固定设置有橡胶垫(14)。
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