[实用新型]一种芯片测试工具

权利要求书

1.一种芯片测试工具，其特征在于，包括：

测试座主体(110)，所述测试座主体(110)上设置有第一安装槽(111)、第二安装槽和测试触点(116)，所述第一安装槽(111)和所述测试触点(116)均位于所述测试座主体(110)的顶部，且所述测试触点(116)位于所述第一安装槽(111)内，所述第二安装槽位于所述测试座主体(110)的底部；

测试座导向板(120)，所述测试座导向板(120)安装于所述第一安装槽(111)内，且所述测试座导向板(120)与所述测试座主体(110)可拆卸配合，所述测试座导向板(120)上设置有用于安装工件的测试槽(121)；以及

测试座底板(130)，所述测试座底板(130)安装于所述第二安装槽内，且所述测试座底板(130)与所述测试座主体(110)可拆卸配合。

2.根据权利要求1所述的芯片测试工具，其特征在于，所述测试座主体(110)上设置有第一标记孔(112)，所述测试座导向板(120)在与所述第一标记孔(112)对应的位置上设置有第二标记孔(122)，所述测试座底板(130)在与所述第一标记孔(112)对应的位置上设置有第三标记孔(131)，所述测试座主体(110)、所述测试座导向板(120)以及所述测试座底板(130)通过球头销钉(140)定位，所述球头销钉(140)安装于所述第一标记孔(112)内，且所述球头销钉(140)的一端延伸至所述第二标记孔(122)内，所述球头销钉(140)的第二端延伸至所述第三标记孔(131)内。

3.根据权利要求2所述的芯片测试工具，其特征在于，所述第一标记孔(112)设置为两个以上，两个以上的所述第一标记孔(112)沿所述测试座主体(110)的周向间隔设置，且所述第一标记孔(112)沿所述测试座主体(110)的长度和宽度方向均不对称，所述第二标记孔(122)的数量与所述第一标记孔(112)对应设置，所述第三标记孔(131)的数量与所述第二标记孔(122)的数量对应设置。

4.根据权利要求3所述的芯片测试工具，其特征在于，两个以上的所述第一标记孔(112)分别设置于所述测试座主体(110)相对的两个侧边上，且两个以上的所述第一标记孔(112)沿所述测试座主体(110)的中心呈中心对称设置。

5.根据权利要求1所述的芯片测试工具，其特征在于，所述测试座导向板(120)通过第一螺栓(150)与所述测试座主体(110)连接，所述测试座底板(130)通过第二螺栓(160)与所述测试座主体(110)连接。

6.根据权利要求5所述的芯片测试工具，其特征在于，所述第一螺栓(150)与所述第二螺栓(160)沿所述测试座主体(110)的高度方向错开设置。

7.根据权利要求6所述的芯片测试工具，其特征在于，所述测试座主体(110)上设置有第一安装孔(113)和第二安装孔(114)，所述第一安装孔(113)和所述第二安装孔(114)沿所述测试座主体(110)的周向错开设置，所述第一螺栓(150)与所述第一安装孔(113)配合，所述第二螺栓(160)与所述第二安装孔(114)配合。

8.根据权利要求7所述的芯片测试工具，其特征在于，所述第一安装孔(113)和所述第二安装孔(114)内均设置有螺母，所述第一安装孔(113)内的所述螺母位于所述第一安装孔(113)背离所述第一安装槽(111)的一端，所述第二安装孔(114)内的所述螺母位于所述第二安装孔(114)背离所述第二安装槽的一端。

9.根据权利要求1至8任一项所述的芯片测试工具，其特征在于，所述测试座导向板(120)上还设置有多个让位槽(123)，多个所述让位槽(123)沿所述测试槽(121)的周向间隔设置，且多个所述让位槽(123)均与所述测试槽(121)连通。

10.根据权利要求1至8任一项所述的芯片测试工具，其特征在于，所述测试座主体(110)和所述测试座底板(130)上均设置有气孔(115)，所述第一安装槽(111)和所述第二安装槽通过所述气孔(115)连通，且所述气孔(115)与所述测试槽(121)连通。