[实用新型]一种芯片测试工具有效

专利信息
申请号: 202222693492.X 申请日: 2022-10-12
公开(公告)号: CN218272606U 公开(公告)日: 2023-01-10
发明(设计)人: 徐银森;孙泰芳;林佳 申请(专利权)人: 四川遂宁市利普芯微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394 代理人: 孔鹏
地址: 629000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 工具
【说明书】:

本申请公开了一种芯片测试工具,属于芯片测试技术领域,其包括测试座主体、测试座导向板以及测试座底板。测试座导向板和测试座底板分别安装于测试座主体的两端,在测试座导向板上设置有用于安装芯片的测试槽,测试座主体上设置有测试触点,且测试触点位于测试槽所在的范围内。本实用新型公开的芯片测试工具在测试座导向板上设置有用于对芯片进行定位以及固定的测试槽,芯片被安装到测试槽内后,其位置被固定,且此时芯片上的引脚也恰好也测试触点接触。一方面,通过测试槽的侧壁能够对测试触点进行保护,另一方面,通过测试槽对芯片进行限制也能避免芯片移位,从而保证测试数据的准确性。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体而言,涉及一种芯片测试工具。

背景技术

目前在芯片测试中,通常将待测试芯片放在专用测试治具的测试框内,以进行芯片位置的固定。芯片位置固定后,测试治具的上盖压下,压紧芯片使芯片的引脚与底部测试板的测试触点充分接触,从而实现电性连接,以对芯片进行电性测试。

但是,现有测试方案的测试治具直接将测试触点设置在测试板上,这种测试冶具的测试触点极易损坏,且在安放芯片时容易令芯片移位,进而导致测试数据不准确。

实用新型内容

本实用新型公开了一种芯片测试工具,以改善上述的问题。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是:

基于上述的目的,本实用新型公开了一种芯片测试工具,包括:

测试座主体,所述测试座主体上设置有第一安装槽、第二安装槽和测试触点,所述第一安装槽和测试触点均位于所述测试座主体的顶部,且所述测试触点位于所述第一安装槽内,所述第二安装槽位于所述测试座主体的底部;

测试座导向板,所述测试座导向板安装于所述第一安装槽内,且所述测试座导向板与所述测试座主体可拆卸配合,所述测试座导向板上设置有用于安装工件的测试槽;以及

测试座底板,所述测试座底板安装于所述第二安装槽内,且所述测试座底板与所述测试座主体可拆卸配合。

可选地:所述测试座主体上设置有第一标记孔,所述测试座导向板在与所述第一标记孔对应的位置上设置有第二标记孔,所述测试座底板在与所述第一标记孔对应的位置上设置有第三标记孔,所述测试座主体、所述测试座导向板以及所述测试座底板通过球头销钉定位,所述球头销钉安装于所述第一标记孔内,且所述球头销钉的一端延伸至所述第二标记孔内,所述球头销钉的第二端延伸至所述第三标记孔内。

可选地:所述第一标记孔设置为两个以上,两个以上的所述第一标记孔沿所述测试座主体的周向间隔设置,且所述第一标记孔沿所述测试座主体的长度和宽度方向均不对称,所述第二标记孔的数量与所述第一标记孔对应设置,所述第三标记孔的数量与所述第二标记孔的数量对应设置。

可选地:两个以上的所述第一标记孔分别设置于所述测试座主体相对的两个侧边上,且两个以上的所述第一标记孔沿所述测试座主体的中心呈中心对称设置。

可选地:所述测试座导向板通过第一螺栓与所述测试座主体连接,所述测试座底板通过第二螺栓与所述测试座主体连接。

可选地:所述第一螺栓与所述第二螺栓沿所述测试座主体的高度方向错开设置。

可选地:所述测试座主体上设置有第一安装孔和第二安装孔,所述第一安装孔和所述第二安装孔沿所述测试座主体的周向错开设置,所述第一螺栓与所述第一安装孔配合,所述第二螺栓与所述第二安装孔配合。

可选地:所述第一安装孔和所述第二安装孔内均设置有螺母,所述第一安装孔内的所述螺母位于所述第一安装孔背离所述第一安装槽的一端,所述第二安装孔内的所述螺母位于所述第二安装孔背离所述第二安装槽的一端。

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