[实用新型]一种INP晶片取放装置有效
| 申请号： | 202222837624.1 | 申请日： | 2022-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN218414516U | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 刘砚滨;赵中阳;赵春锋;于会永;苗连昊 | 申请（专利权）人： | 大庆溢泰半导体材料有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/673 | 分类号： | H01L21/673 |
| 代理公司： | 黑龙江省百盾知识产权代理事务所(普通合伙) 23218 | 代理人： | 孙淑荣 |
| 地址： | 163000 黑龙江省大庆市高新区火*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 inp 晶片 装置 | ||
1.一种INP晶片取放装置，其特征在于：包括无尘盒(5)和滑杆(8)，无尘盒(5)内放置有一卷无尘膜(4)，无尘盒(5)外的一侧固接有两根相互平行的插杆(1)，两根插杆(1)上带有相互镜像的滑动轨道(3)，所述的滑动轨道(3)包括沿插杆(1)长度方向上开设的两条直滑道(301)和一条用于连接两条直滑道(301)的换向滑道(302)，所述的滑杆(8)的两端分别滑动设置在两个滑动轨道(3)内，滑杆(8)两端设置有膜夹(12)，无尘盒(5)侧壁开设有用于使无尘膜(4)通过的窄缝，无尘膜(4)夹放在膜夹(12)上，在换向通道内侧的插杆(1)上设置有挡杆(9)，在两根插杆(1)外侧分别设置有推拉杆(6)，推拉杆(6)抵在滑杆(8)的端部，推拉杆(6)与滑杆(8)端部通过线绳连接。
2.根据权利要求1所述的一种INP晶片取放装置，其特征在于：所述的换向滑道(302)为双向环向滑道，包括互为镜像的两个斜段和两个直段，斜段连接在直段与直滑道(301)之间，两个直段中间转动设置有一个换向挡板(11)，换向挡板(11)的自由端可分别吸附在两个斜段上。
3.根据权利要求1所述的一种INP晶片取放装置，其特征在于：插杆(1)外侧带有凹槽(2)，推拉杆(6)在所述的凹槽(2)内滑动。
4.根据权利要求1所述的一种INP晶片取放装置，其特征在于：所述的无尘盒(5)下方带有把手一(10)，插杆(1)后方带有把手二(7)。
5.根据权利要求1所述的一种INP晶片取放装置，其特征在于：所述的滑杆(8)与滑动轨道(3)之间通过滚动轴承配合。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
