[实用新型]一种电阻阵列辐射特性测试装置有效

专利信息
申请号: 202222868240.6 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN219064691U 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 赵松庆;张帆;李睿;郝燕云;姜东红 申请(专利权)人: 中国空空导弹研究院
主分类号: G01J5/48 分类号: G01J5/48;G01J5/02
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 电阻 阵列 辐射 特性 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种电阻阵列辐射特性测试装置,包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列,热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统,其特征是:在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑;所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成,其中,前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上,物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束,防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射,在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。

2.如权利要求1所述的一种电阻阵列辐射特性测试装置,其特征是:物方冷光阑和电阻阵列安装在真空环境箱内,在真空环境箱朝向镜筒的一端安装有球面窗口板,球面窗口板用于将电阻阵列产生的、未能透射球面窗口板的热辐射散光向四周扩散反射,防止该热辐射散光被电阻阵列表面反射,形成背景热散辐射。

3.如权利要求2所述的一种电阻阵列辐射特性测试装置,其特征是:物方冷光阑呈套筒形,电阻阵列位于物方冷光阑的内孔中。

4.如权利要求1所述的一种电阻阵列辐射特性测试装置,其特征是:在测试镜头上安装有红外波段滤光镜。

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