[实用新型]一种电阻阵列辐射特性测试装置

说明书

一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统；在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。本实用新型一方面将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。另一方面，物方冷光阑遮挡了外围热部件所产生的热辐射光束，避免非均匀性冷反图像的产生。

技术领域

本实用新型涉及热成像领域，尤其是涉及一种电阻阵列辐射特性测试装置。

背景技术

MOS电阻阵列因其具有将数字图像转换成红外图像的功能，而被广泛应用于红外制导武器半实物仿真复杂光电对抗目标环境特性的模拟中。目前，由于MOS电阻阵列内部结构的特殊性，其表面具有反射率高达80％以上的镜面反光特性。

如图1-2所示，现有热像仪100的镜头为一次成像光学系统，为了遮挡红外探测器102周围环境产生的热噪声，在杜瓦瓶101内、红外探测器102的前方设置有像方冷光阑104，像方冷光阑104经镜头向物方空间成像称为入瞳。由于像方冷光阑104位于红外探测器102与镜头之间，像方冷光阑的中间像400成像于红外探测器102的后方，未起到遮挡电阻阵列301和红外探测器102之间环境热散辐射的作用，热散辐射被红外探测器102敏感，产生热噪声。另一方面，像方冷光阑104向物方空间成像光束被某一镜面(譬如MOS电阻阵列表面)反射后，再次经镜头成像在红外探测器102附近，红外探测器102敏感这一现象，被称为红外探测系统的冷反现象。由于像方冷光阑的温度(-196℃)比其周围环境低，且冷反图像与红外探测器并不重合，因此冷反图像呈边缘模糊的黑斑图样，造成了测试图像的非均匀性。上述两种情况的叠加使得测试结果产生较大的偏差，严重影响了电阻阵列辐射特性测试的精准度。

上述问题一直困扰着电阻阵列辐射特性的测试。截止目前，尚未见到有关电阻阵列辐射特性测试方面的研究文献。

实用新型内容

为了克服背景技术中的不足，本实用新型公开了一种电阻阵列辐射特性测试装置，其目的在于：消除冷光阑产生的热噪声和冷反现象。

为实现上述实用新型目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统；在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。

进一步地改进技术方案，物方冷光阑和电阻阵列安装在真空环境箱内，在真空环境箱朝向镜筒的一端安装有球面窗口板，球面窗口板用于将电阻阵列产生的、未能透射球面窗口板的热辐射散光向四周扩散反射，防止该热辐射散光被电阻阵列表面反射，形成背景热散辐射。

进一步地改进技术方案，物方冷光阑呈套筒形，电阻阵列位于物方冷光阑的内孔中。

进一步地改进技术方案，在测试镜头上安装有红外波段滤光镜。

由于采用上述技术方案，相比背景技术，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型一方面将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，使像方冷光阑真正起到了遮挡电阻阵列和红外探测器之间环境热散辐射的作用，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。另一方面，物方冷光阑遮挡了像方冷光阑之外的热部件所产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。

附图说明