[实用新型]一种芯片多功能测试箱

权利要求书

1.一种芯片多功能测试箱，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)的中部固定连接有隔板(7)，所述箱体(1)的内侧底部一侧固定连接有上料箱(2)，所述上料箱(2)的内侧底部一侧固定连接有第一电机(3)，所述第一电机(3)的驱动端固定连接有第一螺杆(4)，所述第一螺杆(4)的外壁螺纹连接有上料板(6)，所述第一螺杆(4)远离第一电机(3)的一端转动连接在隔板(7)的内部，所述上料箱(2)的内侧底部另一侧固定连接有限位杆(5)，所述上料板(6)滑动连接在限位杆(5)的外壁上，所述上料板(6)的顶端固定连接在隔板(7)的内部，所述隔板(7)的中部位于上料板(6)的正上方开设有方形孔(8)，所述箱体(1)的内侧顶部一侧固定连接有固定槽(10)，所述箱体(1)的右侧上方固定连接有第二电机(9)，所述第二电机(9)的驱动端固定连接有第二螺杆(30)，所述第二螺杆(30)远离第二电机(9)的一端转动连接在固定槽(10)的内部，所述第二螺杆(30)的外壁螺纹连接有T形块(11)，所述T形块(11)的底部固定连接有第一电动伸缩杆(12)，所述第一电动伸缩杆(12)的伸缩杆端固定连接有电动夹爪(13)，所述电动夹爪(13)位于方形孔(8)的正上方。

2.根据权利要求1所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述箱体(1)的内侧顶部位于固定槽(10)的旁侧固定连接有第三电机(14)，所述第三电机(14)的驱动端固定连接有连杆(15)，所述连杆(15)的底端固定连接有主动齿轮(16)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述箱体(1)的内侧顶部位于第三电机(14)的旁侧转动连接有调节杆(17)，所述调节杆(17)的外壁固定连接有从动齿轮(18)，所述从动齿轮(18)与主动齿轮(16)之间啮合连接。

4.根据权利要求3所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述调节杆(17)的底端固定连接有转动板(19)，所述转动板(19)的顶部两侧均开设有芯片槽(20)。

5.根据权利要求3所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述箱体(1)的内侧顶部另一侧固定连接有测试器(21)，所述测试器(21)的底部固定连接有第二电动伸缩杆(22)，所述第二电动伸缩杆(22)的伸缩杆端固定连接有顶板(23)。

6.根据权利要求5所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述顶板(23)的底部两侧均固定连接有减震弹簧(25)，两侧所述减震弹簧(25)远离顶板(23)的一端固定连接有检测模块(26)。

7.根据权利要求6所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述检测模块(26)的顶部两侧位于两侧所述减震弹簧(25)的内部均固定连接有导向柱(24)，两侧所述导向柱(24)均滑动连接在顶板(23)的内部。

8.根据权利要求5所述的一种芯片多功能测试箱，其特征在于：所述箱体(1)的内侧底部另一侧固定连接有固定架(27)，所述固定架(27)的上方内部滑动连接有第二收纳屉(29)，所述固定架(27)的下方内部滑动连接有第一收纳屉(28)。