[实用新型]一种芯片多功能测试箱

说明书

本实用新型涉及芯片检测技术领域，公开了一种芯片多功能测试箱，包括箱体，所述箱体的中部固定连接有隔板，所述箱体的内侧底部一侧固定连接有上料箱，所述上料箱的内侧底部一侧固定连接有第一电机，所述第一电机的驱动端固定连接有第一螺杆，所述第一螺杆的外壁螺纹连接有上料板，所述第一螺杆远离第一电机的一端转动连接在隔板的内部，所述上料箱的内侧底部另一侧固定连接有限位杆。本实用新型中，通过第一电机、第一螺杆、限位杆和上料板的设置，能够将芯片输送至方形孔内，将合格与不合格的芯片收纳放置，实现了灵活上料、避免芯片混淆的技术效果，达到了提高测试效率、便于后续使用的技术目的。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片多功能测试箱。

背景技术

芯片制造过程中，为了保证芯片各个性能达到指标，需要对芯片进行详细的测试，这时候就需要使用测试装置对芯片进行测试，确保芯片出厂后功能的全面性。

现有技术中，测试芯片时，需要先将芯片放置在测试仪器底部，然后测试完成后，将芯片取下更换芯片进行测试，上下料会耽误一定时间，从而导致同一台测试装置不能连续的对芯片进行测试，测试效率较低，且不便于对测试后的芯片进行分类收纳，造成不合格的芯片混在一起，影响后续使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片多功能测试箱。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种芯片多功能测试箱，包括箱体，所述箱体的中部固定连接有隔板，所述箱体的内侧底部一侧固定连接有上料箱，所述上料箱的内侧底部一侧固定连接有第一电机，所述第一电机的驱动端固定连接有第一螺杆，所述第一螺杆的外壁螺纹连接有上料板，所述第一螺杆远离第一电机的一端转动连接在隔板的内部，所述上料箱的内侧底部另一侧固定连接有限位杆，所述上料板滑动连接在限位杆的外壁上，所述上料板的顶端固定连接在隔板的内部，所述隔板的中部位于上料板的正上方开设有方形孔，所述箱体的内侧顶部一侧固定连接有固定槽，所述箱体的右侧上方固定连接有第二电机，所述第二电机的驱动端固定连接有第二螺杆，所述第二螺杆远离第二电机的一端转动连接在固定槽的内部，所述第二螺杆的外壁螺纹连接有T形块，所述T形块的底部固定连接有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆的伸缩杆端固定连接有电动夹爪，所述电动夹爪位于方形孔的正上方。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的内侧顶部位于固定槽的旁侧固定连接有第三电机，所述第三电机的驱动端固定连接有连杆，所述连杆的底端固定连接有主动齿轮。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的内侧顶部位于第三电机的旁侧转动连接有调节杆，所述调节杆的外壁固定连接有从动齿轮，所述从动齿轮与主动齿轮之间啮合连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述调节杆的底端固定连接有转动板，所述转动板的顶部两侧均开设有芯片槽。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的内侧顶部另一侧固定连接有测试器，所述测试器的底部固定连接有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆的伸缩杆端固定连接有顶板。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述顶板的底部两侧均固定连接有减震弹簧，两侧所述减震弹簧远离顶板的一端固定连接有检测模块。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述检测模块的顶部两侧位于两侧所述减震弹簧的内部均固定连接有导向柱，两侧所述导向柱均滑动连接在顶板的内部。

作为上述技术方案的进一步描述：