[实用新型]一种便于硅片清洗的自动控温补水槽有效
申请号: | 202223081059.7 | 申请日: | 2022-11-21 |
公开(公告)号: | CN218585936U | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 李枝旺 | 申请(专利权)人: | 安徽富乐德长江半导体材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人: | 程霏 |
地址: | 244000*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便于 硅片 清洗 自动 控温补 水槽 | ||
1.一种便于硅片清洗的自动控温补水槽,其特征在于:包括水槽(1),所述水槽(1)表面开设有三个清洗腔(2),所述清洗腔(2)内放置有硅片承载框(3),其中两个所述清洗腔(2)底部设置有加热板(4),其中两个所述清洗腔(2)的内底壁和内上壁分别设置有下液位传感器(6)和上液位传感器(7),所述其中两个所述清洗腔(2)内壁设置有温度传感器(8),所述水槽(1)前后表面分别设置有加水电磁阀(9)和排水电磁阀(10),其中两个所述清洗腔(2)内壁设置有控温器(15),所述加热板(4)与温度传感器(8)和控温器(15)电性连接,所述水槽(1)外壁设置有控制器,所述下液位传感器(6)和上液位传感器(7)分别与控制器电性连接,所述控制器分别与加水电磁阀(9)和排水电磁阀(10)电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种便于硅片清洗的自动控温补水槽,其特征在于:所述水槽(1)内壁设置有保温层(5)。
3.根据权利要求1所述的一种便于硅片清洗的自动控温补水槽,其特征在于:另一个所述清洗腔(2)内壁设置有若干个喷头(11),所述水槽(1)外表面设置有进水口(12),所述进水口(12)与喷头(11)相连通,所述水槽(1)外表面设置有排水口(13)。
4.根据权利要求1所述的一种便于硅片清洗的自动控温补水槽,其特征在于:所述水槽(1)顶部转动连接有翻盖(14)。
5.根据权利要求1所述的一种便于硅片清洗的自动控温补水槽,其特征在于:所述承载框(3)上表面固定设置有把手。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造