[实用新型]一种芯片测试用翻转机构

权利要求书

1.一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：包括芯片测试机(1)，所述芯片测试机(1)的底面四角固定连接有脚撑(2)，所述芯片测试机(1)的上部设置有工位(3)，所述工位(3)的内底面中心部位固定连接有治具组件(4)，所述治具组件(4)的正上方固定连接有升降组件(5)，所述升降组件(5)包括滑动板(55)，所述滑动板(55)的底面两端对称固定连接有两组翻转组件(6)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：所述翻转组件(6)包括固定支架(61)，所述固定支架(61)固定连接在滑动板(55)的底面，所述固定支架(61)竖直的一面上固定连接有第二伸缩杆(62)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：所述第二伸缩杆(62)的另一面固定连接有微型伺服电机(63)，所述微型伺服电机(63)的输出轴末端固定连接有充气橡胶球(64)，两个所述微型伺服电机(63)的输出轴相对设置。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：所述升降组件(5)还包括两根滑动杆(51)，两根所述滑动杆(51)分别贯穿滑动板(55)的两端，两根所述滑动杆(51)的底部均与工位(3)的内底面固定连接，所述滑动杆(51)的顶面固定架设有顶板(52)。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：所述顶板(52)的底面居中位置固定连接有第一伸缩杆(53)，所述第一伸缩杆(53)的底面固定连接有延长支架(54)，所述延长支架(54)的底部与滑动板(55)固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试用翻转机构，其特征在于：所述治具组件(4)包括底板(41)，所述底板(41)固定连接在工位(3)内底面的中心部位，所述底板(41)上表面固定连接有夹具(42)，所述夹具(42)的中心部位夹持有芯片(43)，所述芯片(43)位于两个所述充气橡胶球(64)的正中间。