[发明专利]数字滤波器验证平台和运行方法

权利要求书

1.一种数字滤波器验证平台，其特征在于，包括验证环境组件，所述验证环境组件包括参考模型；

所述参考模型用于实现与待测滤波器组件设计相同功能；

其中，所述参考模型的可配置参数组包括抽取/内插功能选择、滤波器系数组、滤波器抽取/内插倍数和数据位宽，所述抽取/内插功能选择用于确定所述参考模型所实现滤波器类型为抽取滤波器还是内插滤波器，所述滤波器系数组采用二维队列形式进行存储，所述滤波器抽取/内插倍数用于计算滤波器组中每级滤波器的数据使能，所述数据位宽包括所述滤波器组中每级滤波器进行计算时的位宽数据；

所述参考模型用SystemVeri log语言实现，采用独立的任务或函数对所述滤波器组中每级滤波器中的各功能点进行单独分离设计，且采用了所述SystemVeri log语言中的回调函数的特性来支持各功能点的复用；

其中，所述滤波器组为所述参考模型基于所述抽取/内插功能选择、所述滤波器系数组和所述数据位宽所配置形成的多个滤波器级联形成，所述待测滤波器组件为有限滤波器组件。

2.根据权利要求1所述的验证平台，其特征在于，所述回调函数作为参数传递函数，实现对数据使能和数据截位限幅的控制；所述参考模型具有回调函数接口。

3.根据权利要求1所述的验证平台，其特征在于，所述验证环境组件还包括计分板，所述计分板用于将所述参考模型输出的理想输出和所述待测滤波器组件输出的实际输出进行比对，并输出比对结果。

4.根据权利要求3所述的验证平台，其特征在于，所述计分板用SystemVerilog语言实现。

5.根据权利要求3所述的验证平台，其特征在于，所述计分板采用数据比对滑动窗算法实现所述理想输出和所述实际输出的比对，所述数据比对滑动窗算法包括：

以预设采样频率对所述理想输出进行采样得到理想采样点，并将所述理想采样点以理想滑动窗口形式存储于理想存储块中，同时以预设采样频率对所述实际输出进行采样得到实际采样点，并将所述实际采样点以实际滑动窗口形式存储于实际存储块中；

依次判断所述实际滑动窗口中的实际采样点是否能与所述理想滑动窗口中的理想采样点匹配，若是则对所述实际滑动窗口中下一实际采样点进行匹配，否则不匹配度加1，并判断当前所述不匹配度值是否大于预设阈值，若是则显示当前比对的采样点所属滤波器序号并暂停仿真，若当前所述不匹配度值不大于预设阈值，则删除所述理想滑动窗口内和所述实际滑动窗口内所有采样点，并分别依次向下滑动使得所述理想滑动窗口内具有新的理想采样点，以及使得所述实际滑动窗口内具有新的实际采样点，重现依次判断所述理想滑动窗口中的理想采样点和所述实际滑动窗口中的实际采样点是否匹配；

其中，判断所述实际滑动窗口中的实际采样点是否能与所述理想滑动窗口中的理想采样点匹配过程中，所述理想滑动窗口和所述实际滑动窗口以相同频率和相同步长移动，且所述理想滑动窗口和所述实际滑动窗口具有相同数据长度，所述理想滑动窗口和所述实际滑动窗口中存在相匹配采样点。

6.根据权利要求5所述的验证平台，其特征在于，判断所述实际滑动窗口中的实际采样点是否能与所述理想滑动窗口中的理想采样点匹配包括：

将所述实际滑动窗口中待匹配实际采样点作为待匹配采样点；

从所述理想滑动窗口中查找出所有与所述待匹配采样点的数值相同的所述理想采样点作为对标采样点，计算所述待匹配采样点分别与每个所述对标采样点的地址位差，判断所有所述地址位差中是否存在与所述待匹配采样点前一位实际采样点的延时位相同的，若是则将与所述待匹配采样点前一位实际采样点的延时位相同的所述地址位差作为所述待匹配采样点的延时位，否则判定所述待匹配采样点与所述理想滑动窗口中的理想采样点不匹配。