[发明专利]数字滤波器验证平台和运行方法

说明书

本发明公开了一种数字滤波器验证平台和运行方法，其中方法包括验证环境组件，验证环境组件包括参考模型；参考模型的可配置参数组包括抽取/内插功能选择用于确定参考模型所实现滤波器类型为抽取滤波器还是内插滤波器，滤波器系数组采用二维队列形式进行存储，滤波器抽取/内插倍数用于计算滤波器组中每级滤波器的数据使能；参考模型用SystemVerilog语言实现，采用独立的任务或函数对滤波器组中每级滤波器中的各功能点进行单独分离设计，且采用了SystemVerilog语言中的回调函数的特性来支持各功能点的复用。本发明在进行参数配置之后可自动运行并给出结果判断，实现参考模型和待测滤波器组件同时仿真，无需验证人员介入，节约了验证时间，大幅提高了验证效率。

技术领域

本发明涉及一种数字电路验证技术领域，尤其涉及一种数字滤波器验证平台和运行方法。

背景技术

随着集成电路规模的不断扩大，功能验证工作已经成为芯片流片前最重要且最耗时的工作之一。

数字滤波器是数字电路中常用的数字信号处理模块，其中内插滤波器可为提高输入数据的采样率并对其进行滤波，而抽取滤波器可以先对数据进行滤波再降低其采样率。传统的滤波器验证方法是将Verilog输出的信号与相应的Matlab模型输出信号都保存在文本中，然后利用文本进行对比。该方法效率低下且无法准确定位出错未知，完备性和准确性尚缺。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有的滤波器验证方法效率低下且无法准确定位出错未知，完备性和准确性尚缺。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种数字滤波器验证平台，包括验证环境组件，所述验证环境组件包括参考模型；

所述参考模型用于实现与待测滤波器组件设计相同功能；

其中，所述参考模型的可配置参数组包括抽取/内插功能选择、滤波器系数组、滤波器抽取/内插倍数和数据位宽，所述抽取/内插功能选择用于确定所述参考模型所实现滤波器类型为抽取滤波器还是内插滤波器，所述滤波器系数组采用二维队列形式进行存储，所述滤波器抽取/内插倍数用于计算滤波器组中每级滤波器的数据使能，所述数据位宽包括所述滤波器组中每级滤波器进行计算时的位宽数据；

所述参考模型用SystemVer i log语言实现，采用独立的任务或函数对所述滤波器组中每级滤波器中的各功能点进行单独分离设计，且采用了所述SystemVer i log语言中的回调函数的特性来支持各功能点的复用；

其中，所述滤波器组为所述参考模型基于所述抽取/内插功能选择、所述滤波器系数组和所述数据位宽所配置形成的多个滤波器级联形成，所述待测滤波器组件为有限滤波器组件。

优选地，所述回调函数作为参数传递函数，实现对数据使能和数据截位限幅的控制；所述参考模型具有回调函数接口。

优选地，所述验证环境组件还包括计分板，所述计分板用于将所述参考模型输出的理想输出和所述待测滤波器组件输出的实际输出进行比对，并输出比对结果。

优选地，所述计分板用SystemVerilog语言实现

优选地，所述计分板采用数据比对滑动窗算法实现所述理想输出和所述实际输出的比对，所述数据比对滑动窗算法包括：

以预设采样频率对所述理想输出进行采样得到理想采样点，并将所述理想采样点以理想滑动窗口形式存储于理想存储块中，同时以预设采样频率对所述实际输出进行采样得到实际采样点，并将所述实际采样点以实际滑动窗口形式存储于实际存储块中；