[发明专利]一种二氯二氢硅组分的检测方法在审

专利信息
申请号: 202310014413.4 申请日: 2023-01-05
公开(公告)号: CN116008428A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 金向华;陈琦峰;刘志军 申请(专利权)人: 金宏气体股份有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/06;G01N30/16
代理公司: 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 代理人: 朱如松
地址: 215152 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 二氯二氢硅 组分 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)对取样器内的空气进行置换,再向取样器内加入二氯二氢硅;

(2)将取样器抽真空,再将取样器水浴加热;

(3)向取样器内加入液氮,调整取样器的温度,使得取样器内气液平衡;

(4)再向取样器内通入载气加压,将载气和样品通入气相色谱仪、检测器进行检测分析,其中:

检测器为热导池检测器,工作电流为100,检测器室温度为100℃,汽化室温度为80℃,层析室温度为36-38℃,载气为纯度为氢气,载气流量为40ml/min;

色谱分离柱为中φ3×3000mm不锈钢柱,其填充物中,硅油I:101白色硅烷化担体(40-60)目=30:60。

2.根据权利要求1所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,在步骤(1)中,对取样器内的空气进行置换的过程如下:

将取样器置于水浴锅中进行水浴加热,并开启与取样器连接的单向排气阀;

加热完成后,关闭与取样器连接的单向排气阀,冷却至室温;

再向取样器内通入高纯氮气,并重新开启与取样器连接的单向排气阀,将取样器内的空气排出,然后关闭取样器连接的单向排气阀,完成取样器内的空气置换。

3.根据权利要求2所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,所述的水浴加热的温度为90-92℃,加热时间为10-12min。

4.根据权利要求2所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,所述的高纯氮气的通入时间为12-14min。

5.根据权利要求1所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,在步骤(1)中,所述的二氯二氢硅为固体状。

6.根据权利要求1所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,在步骤(2)中,所述的水浴加热的温度为26-28℃。

7.根据权利要求1所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,在步骤(3)中,所述的调整取样器的温度的过程如下:

以3℃/min的速率降低取样器内的温度至15℃,再静止2-3min;

然后以5℃/min的速率降低取样器内的温度至1℃,再静止8-10min。

8.根据权利要求1所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,在步骤(4)中,所述的载气为氢气。

9.根据权利要求7所述的一种二氯二氢硅组分的检测方法,其特征在于,所述的氢气的浓度≥99.99%。

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