[发明专利]涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种涡流测量方法，其特征在于，所述方法包括：

施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域；

其中，所述测试梯度用于产生涡流；所述射频脉冲信号用于产生磁共振信号；所述选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向；所述选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号；所述打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量；所述水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号；

采集所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号，并根据所述磁共振信号分别测量长时间常数涡流和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流；

其中，所述B₀涡流为与空间位置无关的涡流；所述线性涡流为所述磁共信号中与空间位置有关的一阶涡流；所述磁共振信号包括所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述测试梯度包括极性相反的第一测试梯度和第二测试梯度；所述磁共振信号包括第一磁共振信号、第二磁共振信号、第三磁共振信号和第四磁共振信号；

所述施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域，包括：

施加所述第一测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域；

施加所述第二测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域；

所述采集所述射频脉冲信号在所述预设区域产生的磁共振信号，并根据所述磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流，包括：

在所述预设区域采集所述第一磁共振信号、第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和第四磁共振信号；其中，所述第一磁共振信号和第二磁共振信号包括与所述第一测试梯度对应的磁共振信号；所述第三磁共振信号和第四磁共振信号包括与所述第二测试梯度对应的磁共振信号；

根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选层梯度包括极性相反的第一选层梯度和第二选层梯度；所述选层回聚梯度包括极性相反的第一选层回聚梯度和第二选层回聚梯度；所述预设区域包括第一预设区域和第二预设区域；

所述施加所述第一测试梯度至所述预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述选层梯度、所述选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的预设区域，包括：

施加所述第一测试梯度至所述第一预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第一选层梯度、所述第一选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第一预设区域；其中，所述测试梯度与所述第一选层梯度和所述第一选层回聚梯度位于同一梯度轴；

施加所述第一测试梯度至所述第二预设区域后，施加所述射频脉冲信号、所述第二选层梯度、所述第二选层回聚梯度和所述打散梯度至所述水模的第二预设区域；其中，所述测试梯度与所述第二选层梯度和所述第二选层回聚梯度位于同一梯度轴；

所述根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流，包括：

采集所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号；

根据所述第一磁共振信号、所述第二磁共振信号、所述第三磁共振信号和所述第四磁共振信号计算所述长时间常数涡流的B₀涡流和线性涡流的直接项。