[发明专利]涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种涡流测量方法，该方法包括：施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域；测试梯度用于产生涡流；射频脉冲信号用于产生磁共振信号；选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向；选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号；打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量；水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号；采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号，并根据磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流。采用本申请实施例提供的涡流测量方法能够在一次扫描中完整测量出所有的涡流项，并且采样精度高。

技术领域

本申请涉及涡流测量领域，具体而言，涉及一种涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

磁共振成像系统在扫描过程中需要快速的梯度切换，在周围导体中产生涡流。涡流既随时间变化又有空间依赖性，因而会产生与空间位置无关的涡流项和与空间位置有关的涡流项；其中，与空间位置无关的涡流项称为B₀涡流，与空间位置x，y，和z相关的涡流项称为线性涡流。

其中，线性涡流会使得实际发生的梯度场产生畸变，从而影响被梯度空间编码的信号的相位，导致图像伪影或者图像上的信号不均匀；而随时间变化的B₀涡流会导致磁共振成像频率也随时间变化而变化，有可能在成像过程中产生较为严重的偏共振效应，对某些涡流敏感的序列(比如快速自旋回波成像FSE和基于回波平面采集的扩散成像DWI)，会引起图像伪影、移位甚至变形。

目前，对磁共振系统中的涡流测量的方法一般为通过水模采集信号，需要施加测试梯度，通过单个90°脉冲激发和采集自由衰减信号(FID)，因为FID信号的相位受到涡流的影响，通过施加和关闭测试梯度，将FID信号的相位相减可以得到只有涡流影响的相位项从而解析出涡流曲线。但该方法无法得到长涡流的分组，也无法区分涡流的直接项和交叉项。

另一种基于多次梯度回波(GRE)采集的涡流测量方法，通过施加读出梯度在不同的轴，可以分别测量交叉项和直接项；另外，多次采用梯度回波可以测量长涡流的组分，但该方法难以测量短时间常数涡流，并且无法精确反映采样时刻涡流的大小。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种涡流测量方法、装置、电子设备及存储介质，通过对水模预设区域施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度；采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号，并根据磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流。使用本申请提供的涡流测量方法能够通过一次测量获得长涡流的组分，能够区分涡流直接项和交叉项，并且能够提高涡流测量的精度。

第一方面，本申请实施例提供一种涡流测量方法，方法包括：施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯度至水模的预设区域；其中，测试梯度用于产生涡流；射频脉冲信号用于产生磁共振信号；选层梯度用于选择层方向上梯度磁场的方向；选层回聚梯度用于回聚选层梯度产生的散相信号；打散梯度用于打散被激发的残余磁化矢量；水模用于提供涡流测量需要的磁共振信号。采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号，并根据磁共振信号分别测量长时间常数和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流；其中，B₀涡流为与空间位置无关的涡流；线性涡流为磁共信号中与空间位置有关的一阶涡流；磁共振信号包括射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号。

在上述实现过程中，对水模的预设区域施加射频脉冲信号、测试梯度、选层梯度、选层回聚梯度和打散梯；进一步地，采集射频脉冲信号在预设区域产生的磁共振信号，并根据磁共振信号分别测量长时间常数涡流和短时间常数涡流的B₀涡流与线性涡流。从而通过一次完整的测量测出所有涡流的直接项和交叉项；在提升测试效率的同时，也提高了测试的精度。