[发明专利]一种防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法在审
| 申请号： | 202310026636.2 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN116242864A | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 许超;陈宁娜;张蕾;曾静;魏春阳 | 申请（专利权）人： | 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 陶洪 |
| 地址： | 430080 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 氧化 涂料 组分 测定 压片 射线 荧光 分析 方法 | ||
1.一种防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
制备得到校准样品和待测样品；
设置待检测组分在X射线荧光光谱仪中的测量条件；
使用所述X射线荧光光谱仪对所述校准样品进行检测，创建Kappa，分析校准样品并输入待测元素含量，根据校准样品提供的Kii Av，修改kappa的Kii Sens值；
使用所述X射线荧光光谱仪对所述待测样品进行检测。
2.根据权利要求1所述的防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，其特征在于，制备得到校准样品和待测样品时包括以下步骤：将样品研磨至粒度在180目以上后在105～110℃烘干50～70min冷却，随后称取3～4g样品在自动压样机上用硼酸镶边衬底以28～35t压力保压25～40s。
3.根据权利要求2所述的防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，其特征在于，将样品研磨至粒度在180目以上时，将28～32g样品加入研钵后，向所述研钵加入2～4g微晶纤维素并研磨80～100s。
4.根据权利要求1所述的防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，其特征在于，设置待检测组分在X射线荧光光谱仪中的测量条件之后，使用所述X射线荧光光谱仪对所述校准样品进行检测之前，使用以下公式对所述X射线荧光光谱仪进行谱线重叠干扰校正和基体效应校正：其中，Ci为经校正后的待测元素的浓度；a0，a1，a2为基本曲线的系数；Ii为测到的待测元素的强度；Cj为基体干扰元素的浓度；Ck为谱线干扰元素的浓度；α1k为谱线干扰系数；α2j为基体干扰系数。
5.根据权利要求1所述的防氧化涂料中多组分测定的压片X射线荧光分析方法，其特征在于，设置待检测组分在X射线荧光光谱仪中的测量条件时参照下表所示：
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