[发明专利]一种原位微区磷钇矿Lu-Hf定年方法有效
申请号: | 202310028565.X | 申请日: | 2023-01-09 |
公开(公告)号: | CN115825212B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 吴石头;杨岳衡;王浩;许蕾;黄超;谢烈文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01N27/626 | 分类号: | G01N27/626;G01N1/28;G01N1/44 |
代理公司: | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人: | 张淑枝 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 原位 微区磷钇矿 lu hf 方法 | ||
1.一种原位微区磷钇矿Lu-Hf定年方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)对于磷钇矿样品或者含磷钇矿的岩石样品,先进行切割至合理的大小,制成环氧树脂样品靶,或普通光学薄片,以适应激光剥蚀样品室的大小;
(2)样品放置到激光剥蚀样品室中,调整样品在光轴方向的位置,使得激光束聚焦;
(3)对目标采样点进行点剥蚀,利用载气将剥蚀出的气溶胶载入ICP-MS/MS等离子体源中进行电离,并测得离子信号数据;
(4)ICP-MS/MS仪器在三重四级杆模式下,采用辅助气氮气对仪器进行增敏,采用纯氨气作为反应气体与176Hf反应,使之与176Lu、176Yb的在线分离,采集27Al,43Ca,89Y,90Zr,172Yb,(172+82)Yb,175Lu,(175+82)Lu,(176+82)Hf,(177+82)Hf和(178+82)Hf离子信号强度;
(5)测量过程中,每测试10个未知样品后,重复测试两个NIST SRM 610、两个ARM-1、两个磷钇矿标准物质XN02以及两个磷钇矿标准物质MG-1,保证标准物质和未知样品测量条件相同;
(6)得到元素信号数据后,计算出176Lu/176Hf和176Hf/177Hf比值,采用NIST SRM 610对176Hf/176Lu和176Hf/177Hf比值进行仪器漂移校正;
(7)根据样品的175Lu/177Hf和172Yb/177Hf比值,176Lu和176Yb在+82质量数的反应产率,Lu和Yb信号强度,对(176+82)Hf的信号进行扣除;
(8)采用(178+82)Hf信号强度,对磷钇矿标准物质和样品进行普通Hf扣除;
(9)根据XN02标准物质的176Hf/176Lu和176Hf/177Hf测量值和其标准值,得到相应的分馏系数,对未知样品的176Hf/176Lu和176Hf/177Hff比值进行校正;
(10)根据上述校正后的176Hf/176Lu比值,通过公式其中t表示年龄,λ表示Lu-Hf体系衰变系数,表示扣除过普通Hf的同位素比值,计算出磷钇矿Lu-Hf年龄数据。
2.根据权利要求1所述的一种原位微区磷钇矿Lu-Hf定年方法,其特征在于,步骤(7)中的对(176+82)Hf的信号进行扣除,以消除176Lu和176Yb的干扰。
3.根据权利要求1所述的一种原位微区磷钇矿Lu-Hf定年方法,其特征在于,步骤(9)中,采用基体匹配的标准物质XN02对176Hf/176Lu和176Hf/177Hf测量值和其标准值进行校正。
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