[发明专利]SSD供电抗干扰能力测试方法、装置、存储介质及系统

权利要求书

1.一种SSD供电抗干扰能力测试方法，其特征在于，所述方法包括：

根据SSD上电时所处的不同阶段配置不同类型的干扰供电波形，以模拟SSD不同上电阶段的电源干扰场景；

在待测试SSD的不同上电阶段，分别发送与当前上电阶段对应类型的干扰供电波形生成指令到可编程的存储系统部件热插拔测试工具，以供所述存储系统部件热插拔测试工具根据所述干扰供电波形生成指令生成相应的干扰供电波形对待测试SSD进行供电干扰测试；

向测试服务器发送SSD状态监测命令，使测试服务器监测待测试SSD的上电状态，以及本次供电干扰测试场景下待测试SSD是否达到正常工作状态，并返回监测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

向测试服务器发送SSD读写命令，使测试服务器在待测试SSD上电完成后对待测试SSD进行读写测试以监测本次供电干扰测试场景下SSD数据是否会丢失或者报错，并返回监测结果。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在待测试SSD的任一上电阶段，分别在不同测试时间点多次发送与当前上电阶段对应类型的干扰供电波形生成指令到可编程的存储系统部件热插拔测试工具，以通过增加干扰供电波形的测试点数量实现不同测试压力的电源干扰场景测试。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在待测试SSD的任一上电阶段，在发送与当前上电阶段对应类型的干扰供电波形生成指令中携带测试循环数量参数，以通过增加一次干扰测试中的干扰波形循环数量实现不同测试压力的电源干扰场景测试。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据SSD上电时所处的不同阶段配置不同类型的干扰供电波形包括：

在SSD上电启动阶段配置的干扰供电波形类型为：将供电的供电间隔在1us至200000us之间随机取值，低电平电压在0到12V之间随机取值，低电平间隔时间在1us到150000us之间随机取值；

在SSD上电初始化阶段配置的干扰供电波形类型为：将供电的供电间隔在200000us至1000000us之间随机取值；低电平电压在0到12V之间随机取值，低电平间隔时间在1us到150000us之间随机取值；

在SSD上电后正常工作阶段的干扰供电波形类型为：将供电的供电间隔在1000000us至10000000us之间随机取值；低电平电压在0到12V之间随机取值，低电平间隔时间在1us到150000us之间随机取值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

记录所有对待测试SSD测试过的干扰点信息以及返回的监测结果，以当待测试SSD出现问题时，使用记录的固定干扰波形来复现SSD故障时的测试场景。

7.一种SSD供电抗干扰能力测试装置，其特征在于，所述装置包括：

配置模块，用于根据SSD上电时所处的不同阶段配置不同类型的干扰供电波形，以模拟SSD不同上电阶段的电源干扰场景；

测试模块，用于在待测试SSD的不同上电阶段，分别发送与当前上电阶段对应类型的干扰供电波形生成指令到可编程的存储系统部件热插拔测试工具，以供所述存储系统部件热插拔测试工具根据所述干扰供电波形生成指令生成相应的干扰供电波形对待测试SSD进行供电干扰测试；

监测模块，用于向测试服务器发送SSD状态监测命令，使测试服务器监测待测试SSD的上电状态，以及本次供电干扰测试场景下待测试SSD是否达到正常工作状态，并返回监测结果；

所述监测模块，还用于向测试服务器发送SSD读写命令，使测试服务器在待测试SSD上电完成后对待测试SSD进行读写测试以监测本次供电干扰测试场景下SSD数据是否会丢失或者报错，并返回监测结果。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述方法的步骤。